FlexSEM 1000 II
“的SEM更為緊湊”
寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。
全新開發的用戶界面和電子光學系統讓您深切體驗其高性能。
參數規格：
| 項目 | 內容 |
|---|---|
| 分辨率*3 | 4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式） |
| 加速電壓 | 0.3 kV～20 kV |
| 倍率 | ×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率） |
| 低真空設置 | 6～100 Pa |
| 電子槍 | 集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament） |
| 樣品臺 | 3軸馬達驅動樣品臺 X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 可觀察范圍：直徑64mm（R聯用）*4 |
| 樣品尺寸 | 直徑80 mm（選配：直徑153mm） |
| 樣品高度 | 40 mm |
| 尺寸 | 機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進深）×450（高度） mm |
| 選項 |
|
| 軟件 | Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能） |
產品特點：
FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。
憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現的畫質
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
小型高性能色譜柱
尺寸雖小，卻具備同類產品中的分辨率。
金顆粒沉積 金顆粒沉積
加速電壓：20 kV 加速電壓：20 kV
倍率：60,000倍 倍率：50,000倍
信號：SE 信號：BSE
分辨率：4 nm 分辨率：5 nm
高畫質
配備可優化放射電流的功能，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度，而獲得噪點小且清晰的圖像。
加速電壓：5 kV 加速電壓：5 kV
倍率：30,000倍 倍率：30,000倍
信號：SE、無金屬涂層 信號：SE、無金屬涂層
可用高畫質和快速觀察
搭載GUI和自動調節功能，讓初學者也能得心應手。只要按一下自動對焦（AFC）、自動亮度調節（ABCC）按鈕，就可以獲得的圖像。（自動調節：與以往相比，縮短時間約13秒*3）當然，也可以通過觸屏進行操作。
*3對比日立SEM SU1510
全新定位系統“SEM MAP”
“SEM MAP”功能可有效實現觀察時的視野搜索和樣品定位。根據內置攝像頭所拍攝的圖像，定位樣品，一鍵點擊即可移動到觀察部位。
在SEM MAP上導入的圖像會自動進行粘貼，并以分布圖的形式顯示。
可放置在桌面上的緊湊型電子顯微鏡
寬幅僅為45厘米，緊湊型設計，地減小占用空間。機體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外，機體和電源盒可以分離，從而大幅度提升諸如桌面設置等的布局靈活性。
