BW-HAST-H4
高加速溫濕度應力試驗系統
高加速溫濕度應力試驗系統BW-HAST-H4 適用于 SI/SIC/GaN 芯片的各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、 MOSFET、IGBT、IPM、橋堆等 半導體器件進行 HAST 試驗。
技術特點 Technical characteristics
■實時監測每個器件的反偏電壓、漏電流;
■電壓可達6000V;;
■對于模塊上下橋可同時加電同時監測漏電;
■整個試驗過程的數據(漏電流、反偏電壓、溫度、濕度) 記錄并存儲。并輸出為Excel 報表和繪制全過程漏電流IR 曲
■設定漏電上限可快速切斷該回路電壓;
■可根據用戶的需求,定制各種老化板及測試程序。