產品簡介
lexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率
· 憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現的畫質
· 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
· 大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2
產品參數
| 項目 | 內容 |
| 分辨率*3 | 4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） |
| 加速電壓 | 0.3 kV～20 kV |
| 倍率 | ×6～×300,000 （照片倍率） |
| 低真空設置 | 6～100 Pa |
| 電子槍 | 集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament） |
| 樣品臺 | 3軸馬達驅動樣品臺 |
| 樣品尺寸 | 直徑80 mm（選配：直徑153mm） |
| 樣品高度 | 40 mm |
| 尺寸 | 機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm |
| 選項 | · 高敏感度低真空檢測器（UVD2.0） · 能量色散型X射線檢測器（EDS） |
| 軟件 | Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能） |
