日本理研計器開爾文探針FAC-2
特征
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設置樣品,無需微調電極和樣品之間的距離
可在大氣中測量半導體樣品的費米能級
由于測量時間短,因此非常適合測量隨時間變化的情況,例如成膜或表面處理后金屬表面的變化。
目的
有機電子材料的費米能級測量
金屬和導電薄膜功函數的測量
日本理研計器開爾文探針FAC-2
產品分類 | 開爾文探針 |
模型 | FAC-2 |
測量原理 | 開爾文法 |
測量零件尺寸 | Φ10mm |
測量能量范圍 | 3.4 至 6.2eV(使用功函數為 5.0eV 的參考樣品進行校準時) |
測量時間 | 10 秒或更短(如果樣品是金屬) |
重復性(標準差) | 功函數0.02eV(樣品:金板) |
溫濕度范圍 | 溫度范圍15-35℃,濕度20-60%RH |
電源 | AC100V,50/60Hz 5A(最大) |
外形尺寸 | 約235(寬)×330毫米(高)×408(深)毫米 |
重量 | 約12公斤 |