廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護*的儀器。
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀符合以下標準：
GB/T4956-1985磁性方法；
GB/T4957-1985渦流方法；
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀；
JJG889-95《磁阻法測厚儀》；
JJG818-93《電渦流式測厚儀》。
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀功能與特點
采用了渦流兩種測厚方法，可無損地測量：
非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀設有五個統計量：平均值、***大值（MAX）、***小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
具有存貯功能：可存貯500個測量值
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析
具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖
具有電源欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀技術參數
測頭類型：N
測量原理：磁感應|或者電渦流
測量范圍：0-1250um|0-1250um0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：0.1um
探頭連接方式：一體化
示值誤差：N
一點校準(um)：±[3%H+1]
兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
一點校準(um)：±[3%H+1.5]
兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件：N
***小曲率半徑(mm)：凸1.5|凹9
基體***小面積的直徑(mm)：ф7
***小臨界厚度(mm)：0.5
***小曲率半徑(mm)：凸3|凹10
基體***小面積的直徑(mm)：ф5
***小臨界厚度(mm)：0.3
溫濕度：0~40℃|20%RH～90%RH
統計功能：平均值、***大值（MAX）、***小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀上下限設置：有
存儲能力：500個測量值
打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀關機方式：手動和自動
電源：二節AAA型（7號）1.5V電池
外形尺寸：110×50×23mm
leeb231型渦流涂鍍層測厚儀重量：100g
