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廣電計量檢測集團股份有限公司

近紅外熒光光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱HORIBA科學儀器事業部
  • 品       牌
  • 型       號Nanolog
  • 所  在  地國外
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2023/11/23 11:41:51
  • 訪問次數253
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HORIBA 科學儀器事業部(HORIBA Scientific)隸屬 HORIBA 集團,致力于為用戶提供*的檢測和分析儀器:包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質和XRF等分析儀器。

結合旗下的技術優勢,包括擁有200多年發展歷史的光譜制造技術Jobin Yvon,以及擁有*技術優勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天,HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經遍布各地,并在中國實現了銷售和服務的本土化,位于上海、北京、廣州三地的產品專家、售后服務團隊以及全國各地的代理商機構可充分保障國內用戶的技術咨詢以及售后服務需求。

HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家,其分支機構遍布。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。 目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!
近紅外熒光光譜儀儀器簡介:HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術)----熒光光譜儀器的,提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種偶聯技術的解決方案。借助于成熟的FluoroLog®技術,Nanolog®采用模塊化設計,即可實現穩態測量,也可實現瞬態測量(TCSPC技術),系統搭配成像光譜儀,可實現紅外三維熒光快速測量。
近紅外熒光光譜儀 產品信息

近紅外熒光光譜儀儀器簡介
   
HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術)----熒光光譜儀器的,提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種偶聯技術的解決方案。

借助于成熟的FluoroLog®技術,Nanolog®采用模塊化設計,即可實現穩態測量,也可實現瞬態測量(TCSPC技術),系統搭配成像光譜儀,可實現紅外三維熒光快速測量。

NanoLog ®系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究,NanoLog ®可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器,同時也可實現紫外-可見區熒光光譜測量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設計的NanoSizer®軟件,可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內徑分布,并且在微秒時間內就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內獲得的激發-發射三維熒光光譜圖。
 
可選附件
· 超連續激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發裝置
· 自動滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件

 
近紅外熒光光譜儀技術參數
· 450W的大功率連續氙燈,涵蓋UV~NIR波長范圍
· 快速獲得全波長范圍激發-發射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測器:800~1700nm;規格可選:256×1,512×1和1024×1,單像元25µm;噪音水平:650e-rms (液氮制冷);可選電制冷;擴展范圍可選(1.1-2.2µm)
· iHR320發射光譜儀:焦長=320mm;f/4.1;線色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全軟件控制三光柵塔輪(所有測定在光柵刻線數1200gr/mm條件下)
· 固態近紅外檢測器,光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定,采用時間相關單光子計數技術測定熒光壽命范圍:100ps~1ms(UV~NIR);磷光壽命范圍1us~>10s(UV~NIR)

 
主要特點
· 一秒內獲得激發-發射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
· 高光譜分辨率
· 易于實現SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求:

      - PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
      - InGaAs陣列檢測器用于NIR數據的快速采集
      - CCD陣列檢測器用于UV-Vis數據的快速采集
· 同時解析量子點
· 易于實現能量轉移研究
· 模塊設計以滿足不同實驗的需求

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