XGT-5000X射線熒光分析顯微鏡儀器簡介
堀場成功地建造了世界*的X光導管用來產生精細X光束以分析微觀樣品。X光束由顯微（測）聚焦X光管產生，穿過X光導管形成精細的（直徑小于10μm）高強度的X光束，照射XY掃描臺上的樣品，并產生X熒光，由硅X光探頭檢測。同時，穿過樣品的透射X光由閃爍體探頭檢測。然后重新用XY掃描信號將X熒光測出的樣品表面成分和由透射X光得到的樣品內部結構形成各自的映射圖象。另外，X光導管的可以方便地在10μm點直徑和100μm點直徑間切換，以獲得樣品的*測量模式。
XGT-5000X射線熒光分析顯微鏡儀器技術參數
1.l.X光微細光束發生器X光束開關機構：Ф10μm或Ф100μmXGTX發生器：X光管（靶材：Rh）管電壓：15、30、50KV（可選）管電流：0.1、1.0 MA
2.X光探頭① 硅探頭：高純硅X光探頭（Xerophy） 可檢元素11Na-92U
3.同時可測圖象數：一個透射X光映象31個X熒光映象（256×256像素）或15個X熒光映象（512×512像素）
4.定量分析（FPM和測量線定量）
5.光學顯微鏡：放大倍數10
XGT-5000儀器主要特點
1.創新1：大氣狀態下分析，省卻了樣品預處理的麻煩。
2.創新2：非破壞、無污染的分析貴重樣品。
3.創新3：同時分析樣品的成分和結構。
4.創新4：同時對從11號元素鈉到92號元素鈾之間的31個元素進行分析并映象。
5.創新5：可進行10μm或100μm直徑的定點分析，也可以進行微觀級分析(512μm×512μm）
HORIBA 科學儀器事業部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團，致力于為用戶提供*的檢測和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質和XRF等分析儀器。
結合旗下的技術優勢，包括擁有200多年發展歷史的光譜制造技術Jobin Yvon,以及擁有*技術優勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經遍布各地，并在中國實現了銷售和服務的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產品專家、售后服務團隊以及全國各地的代理商機構可充分保障國內用戶的技術咨詢以及售后服務需求。
HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家，其分支機構遍布。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統（System）及各種光學光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。 目前，HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障！
X射線熒光分析顯微鏡 產品信息
