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X射線熒光分析顯微鏡

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公司名稱HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌
型號(hào)XGT-7000V
所在地國(guó)外
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2023/11/9 14:23:54
訪問(wèn)次數(shù)143

產(chǎn)品標(biāo)簽:

XGT-7000V X射線熒光分析顯微鏡堀場(chǎng)

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團(tuán)，致力于為用戶提供*的檢測(cè)和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質(zhì)和XRF等分析儀器。

結(jié)合旗下的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術(shù)Jobin Yvon,以及擁有*技術(shù)優(yōu)勢(shì)的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測(cè)分析儀器已經(jīng)遍布各地，并在中國(guó)實(shí)現(xiàn)了銷售和服務(wù)的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產(chǎn)品專家、售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)以及全國(guó)各地的代理商機(jī)構(gòu)可充分保障國(guó)內(nèi)用戶的技術(shù)咨詢以及售后服務(wù)需求。

展開顯示更多內(nèi)容

HORIBA歐洲總部自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機(jī)構(gòu)遍布。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測(cè)器，CCD檢測(cè)器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

X射線熒光分析顯微鏡儀器簡(jiǎn)介：新一代的x射線分析顯微鏡XGT-7000將光學(xué)圖像的觀察與樣品成分的元素分析*地結(jié)合起來(lái)。 *的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線導(dǎo)管在10 &#181;m和1.2 mm間切換，方便用戶選擇Z佳的測(cè)量條件，無(wú)論是微觀到宏觀。同樣，雙真空式設(shè)計(jì)也確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即可測(cè)量含水樣品，

X射線熒光分析顯微鏡產(chǎn)品信息

X射線熒光分析顯微鏡儀器簡(jiǎn)介

新一代的x射線分析顯微鏡XGT-7000將光學(xué)圖像的觀察與樣品成分的元素分析*地結(jié)合起來(lái)。

*的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線導(dǎo)管在10 µm和1.2 mm間切換，方便用戶選擇*的測(cè)量條件，無(wú)論是微觀到宏觀。同樣，雙真空式設(shè)計(jì)也確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即可測(cè)量含水樣品，生物樣品又可保證測(cè)量輕元素時(shí)的靈敏度。

與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī)，可以精確定位感興趣區(qū)域。

x射線分析顯微鏡XGT-7000主要特點(diǎn)

友好的用戶界面
友好的導(dǎo)航器界面引導(dǎo)用戶從樣品設(shè)定，譜圖采集到數(shù)據(jù)分析的整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程

高光譜元素面分布分析
SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后，用戶可以根據(jù)自己的分析，添加或刪除某個(gè)元素面分布圖。
對(duì)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。
X射線透過(guò)像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造，實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損觀測(cè)。

單點(diǎn)分析和多點(diǎn)自動(dòng)分析
單點(diǎn)分析和自動(dòng)多點(diǎn)分析時(shí)，在單點(diǎn)或用戶定義的多個(gè)點(diǎn)采集高品質(zhì)譜圖。自動(dòng)定位并標(biāo)注元素譜峰。定量分析可達(dá)ppm級(jí)。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或µm級(jí)樣品的多層膜厚。

關(guān)鍵詞：顯微鏡