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廣電計量檢測集團股份有限公司

芯片防靜電能力檢測

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海華測品標檢測技術有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/10/31 14:40:35
  • 訪問次數182
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華測檢測認證集團股份有限公司(英文"Centre Testing International Group Co., Ltd.",簡稱"CTI",是一家集檢測、校準、檢驗、認證及技術服務為一體的綜合性第三方機構,在大部分國家范圍內為企業提供一站式解決方案。

 

CTI成立于2003年,總部位于深圳,在全國設立了六十多個分支機構,擁有化學、生物、物理、機械、電磁等領域的近130個實驗室,并在寶島、香港、美國、英國、新加坡等地設立了海外辦事機構。20091030日,CTI成功在深交所掛牌上市,股份公司憑證代碼:300012

 

基于遍布大部分國家的服務網絡和深厚的服務能力,CTI每年可出具約150萬份具有公信力的檢測認證報告,服務客戶9萬家,其中世界500強客戶逾百家。CTI集團及各分子公司在各領域可為客戶提供檢測、檢驗、認證、審核、培訓、鑒定、咨詢等服務:

消費品:有害物質檢測,可靠性與失效分析,金屬材料檢測,非金屬材料分析,紡織品、鞋類、箱包檢測,玩具、嬰童產品、學習用品、家具、餐廚具等食品接觸材料及雜貨檢測;

工程:建材與工程檢測、檢驗及認證,特種設備無損檢測,風電機組檢測及監造;

環境:環境檢測與咨詢,環境污染治理設施運行,污染源在線監控設施委托運行等;

電器/工業品:安規檢測,EMC檢測,CCC認證,CB測試,國內國際貿易貨物檢測鑒定評估,有害生物管理,計量校準、尺寸測量及儀器維修及相關領域檢測分析;

食品/農產品/保化:食品、藥品、日化產品、農產品、保持健康品、飼料、食品包裝和接觸材料檢測及認證,工業化學品、農藥等測試評價;

交通運輸:汽車整車及其零部件檢測,金屬分析,船舶及工程,貨物適運鑒定;

醫學/生命安全:分子及遺傳因子檢測、診斷,藥效、毒理學,生物分析,職業安全衛生,健康體檢,健康器械代理、注冊、咨詢;

其他技術服務:驗貨與合規服務,審核服務,體系咨詢,產品認證,能力驗證,標準物質研發和銷售,法律法規注冊/咨詢,化學品、食品、消費品等法規咨詢和產品注冊,培訓等等。   

 

2013年,CTI成為歐盟NB認證機構;2015年,CTI入圍國家強制性產品認證(CCC認可實驗室;同年,新加坡華測成為發證/認可NCB,深圳實驗室獲得CBTL資質。CTI是中國合格評定認可委員會(CNAS)認可的實驗室和中國質量認證中心(CQC)的合作實驗室,同時通過了計量認證(CMA),*具備出具第三方檢測報告的資質。除了通過國內的認可以外,CTI還通過了英國UKAS,美國ANSI、美國"能源之星"、新加坡SPRING等機構的認可,是美國消費者委員會(CPSC)、美國UL、美國FCC、加拿大IC、墨西哥NYCE、挪威NEMKO、德國TUV、美國紡織品染化師協會(AATCC)、美國WRAP等國際有地位機構認可合作的實驗室,檢測報告具有國際公信力。

 


SGS報告,產品檢測,阻燃測試,失效分析,成分分析,鹽霧腐蝕試驗,光老化測試,殘余應力,無損探傷,可靠性測試,EMC測試,rohs檢測,reachSVHC測試,生物降解,MSDS報告
芯片靜電防護能力ESD測試是半導體產品先期質量驗證的重要關鍵指針,CTI華測檢測已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質認可,ANSI/ESD S20.20靜電防護體系認證。可為您提供芯片防靜電能力測試,測試數據準確可靠,實驗室信息管理系統,保障每個服務環節的高效、保密運轉。
芯片防靜電能力檢測 產品信息

業務挑戰

為什么芯片需要防靜電

靜電是環境中的自然現象,是電荷在物體中的不平衡分布的一種現象。物體帶電后,電荷會保持在物體上,故稱為靜電。靜電積累之后,當物體電位不同,電荷通過瞬間電流發生轉移的過程即為放電。

半導體產品具有非常細小的線路,為了避免芯片在生產或使用過程中被靜電放電所損傷,在集成電路內皆有制作靜電放電防護電路。隨著半導體產業*制程發展推進,芯片尺寸不斷縮小,ESD耐壓能力是否同步提升,在靜電防護的能力上也備受挑戰,ESD測試是半導體產品先期質量驗證的重要關鍵指針。

CTI華測檢測已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質認可,ANSI/ESD S20.20靜電防護體系認證。可為您提供芯片防靜電能力測試,測試數據準確可靠,實驗室信息管理系統,保障每個服務環節的高效、保密運轉。

芯片防靜電能力測試

? 芯片放電模擬測試

━  模擬因人體在地上走動磨擦或其他因素,在人體上已累積了靜電,當此人去碰觸到芯片時,人體上的靜電便會經由芯片的pin腳進入芯片內,再經由芯片放電到地去,瞬間產生的電流可能造成芯片的損毀。

━  模擬機器設備本身累積了靜電,當此機器去碰觸到芯片時,該靜電便經由芯片的pin腳放電。因機械等效電阻為0奧姆,因此瞬間產生的電流更大,對芯片的破壞力也強。

━  芯片先因磨擦或其他因素而在內部累積了靜電,但在靜電累積的過程中并未被損傷。當此帶有靜電的芯片在使用時,其pin腳碰觸到接地面時,芯片內部的靜電便會經由pin腳自芯片內部流出來,而造成了放電的現象。

━  瞬間電流被鎖定或者放大,而造成芯片在電源與對地之間造成短路,而因為大電流損傷芯片。由于目前半導體電路設計密度越來越高,電壓或電流的瞬間變化對于芯片的損傷也越趨嚴重。

適用測試標準 : 協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
適用產品范圍: 集成電路芯片、晶體管、MOS管…等。
常規樣品要求: 以具體標準為準。

? 檢測項目

━  人體靜電測試 (HBM,Human Body Model)
━  機械靜電測試 (MM,Machine Model)
━  充電放電測試 (CDM,Charged Device Model)
━  閂鎖效應(Latch-up) 
━  傳輸線脈沖(TLP,Transmission Line Pulse)

? 解決方案

━  1.ESD實驗設計
━  2.ESD測試
━  3.數據分析與匯整報告
━  4.ESD培訓及咨詢

服務優勢

服務流程

關鍵詞:芯片
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