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廣電計量檢測集團股份有限公司

芯片可靠性驗證

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海華測品標檢測技術有限公司
  • 品       牌
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  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/10/31 14:38:41
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華測檢測認證集團股份有限公司(英文"Centre Testing International Group Co., Ltd.",簡稱"CTI",是一家集檢測、校準、檢驗、認證及技術服務為一體的綜合性第三方機構,在大部分國家范圍內為企業提供一站式解決方案。

 

CTI成立于2003年,總部位于深圳,在全國設立了六十多個分支機構,擁有化學、生物、物理、機械、電磁等領域的近130個實驗室,并在寶島、香港、美國、英國、新加坡等地設立了海外辦事機構。20091030日,CTI成功在深交所掛牌上市,股份公司憑證代碼:300012

 

基于遍布大部分國家的服務網絡和深厚的服務能力,CTI每年可出具約150萬份具有公信力的檢測認證報告,服務客戶9萬家,其中世界500強客戶逾百家。CTI集團及各分子公司在各領域可為客戶提供檢測、檢驗、認證、審核、培訓、鑒定、咨詢等服務:

消費品:有害物質檢測,可靠性與失效分析,金屬材料檢測,非金屬材料分析,紡織品、鞋類、箱包檢測,玩具、嬰童產品、學習用品、家具、餐廚具等食品接觸材料及雜貨檢測;

工程:建材與工程檢測、檢驗及認證,特種設備無損檢測,風電機組檢測及監造;

環境:環境檢測與咨詢,環境污染治理設施運行,污染源在線監控設施委托運行等;

電器/工業品:安規檢測,EMC檢測,CCC認證,CB測試,國內國際貿易貨物檢測鑒定評估,有害生物管理,計量校準、尺寸測量及儀器維修及相關領域檢測分析;

食品/農產品/保化:食品、藥品、日化產品、農產品、保持健康品、飼料、食品包裝和接觸材料檢測及認證,工業化學品、農藥等測試評價;

交通運輸:汽車整車及其零部件檢測,金屬分析,船舶及工程,貨物適運鑒定;

醫學/生命安全:分子及遺傳因子檢測、診斷,藥效、毒理學,生物分析,職業安全衛生,健康體檢,健康器械代理、注冊、咨詢;

其他技術服務:驗貨與合規服務,審核服務,體系咨詢,產品認證,能力驗證,標準物質研發和銷售,法律法規注冊/咨詢,化學品、食品、消費品等法規咨詢和產品注冊,培訓等等。   

 

2013年,CTI成為歐盟NB認證機構;2015年,CTI入圍國家強制性產品認證(CCC認可實驗室;同年,新加坡華測成為發證/認可NCB,深圳實驗室獲得CBTL資質。CTI是中國合格評定認可委員會(CNAS)認可的實驗室和中國質量認證中心(CQC)的合作實驗室,同時通過了計量認證(CMA),*具備出具第三方檢測報告的資質。除了通過國內的認可以外,CTI還通過了英國UKAS,美國ANSI、美國"能源之星"、新加坡SPRING等機構的認可,是美國消費者委員會(CPSC)、美國UL、美國FCC、加拿大IC、墨西哥NYCE、挪威NEMKO、德國TUV、美國紡織品染化師協會(AATCC)、美國WRAP等國際有地位機構認可合作的實驗室,檢測報告具有國際公信力。

 


SGS報告,產品檢測,阻燃測試,失效分析,成分分析,鹽霧腐蝕試驗,光老化測試,殘余應力,無損探傷,可靠性測試,EMC測試,rohs檢測,reachSVHC測試,生物降解,MSDS報告
提供完整的半導體產品可靠性試驗項目,包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務,協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
芯片可靠性驗證 產品信息

業務挑戰

什么是可靠性

產品可靠性又稱為信賴性或可靠度,廣泛的定義為「產品在既定的時間內以及特定的工作環境下,執行特定性能或功能,并且圓滿成功達成任務的能力」。換句話說,可靠性指的是推估產品銷售后可使用的時間,而可靠性測試的目的在于透過給予產品適當的加速應力條件(Accelerated Stress Conditions),以縮短模擬驗證的時間,并以適當的壽命預估模式,取得有效性與正確性。

針對產品自生產至出貨使用等的壽命模式,經常以浴缸曲線圖(Bathtub Curve)來說明,如下圖。浴缸曲線中的Infant Mortality區間,雖說屬于早夭時期,但卻是在說明實際上產品的生產制造質量,這也是影響到出貨后的穩定度,是關鍵的一段時間。

CTI華測檢測可提供完整的半導體產品可靠性試驗項目,包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務,協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。

芯片可靠性測試

常見的老化壽命試驗

高溫壽命試驗 (HTOL,High Temperature Operation Life)
低溫壽命試驗 (LTOL,Low Temperature Operation Life)
早夭失效率試驗 (ELFR,Early Life Failure Rate)

環境應力試驗

可靠度試驗前處理 (Precondition Test)
溫度循環試驗 (Temperature Cycling Test) 
溫濕度偏壓試驗 (Temperature Humidity Bias Test)
高低溫貯存試驗 (High / Low Temperature Storage Test)
耐熱性試驗 (Thermal Resistance Test)。

封裝品質試驗

焊錫性試驗(Solderability Test) 
沾錫天平試驗 (Wetting Balance Test)
推拉力試驗 (Pull / Shear Test)
無鉛制程試驗 (Pb-Free Test)

老化板的設計制作

根據產品規格提供HTOL,LTOL,ELFR,HAST,THB,PTC等試驗設計硬件、材料選擇。

適用測試標準 : 協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
適用產品范圍: 集成電路芯片、晶體管、MOS管…等。
常規樣品要求: 請聯系我們的業務(),以具體標準為準。

? 可靠性測試項目

━  1.老化壽命試驗
━  2.超高瓦數(功耗超過150瓦到600瓦)老化壽命試驗
━  3.驅動芯片(Driver IC) MIPI 可靠性老化服務
━  4.環境試驗
━  5.車用電子可靠性試驗
━  6.產品壽命預估
━  7.可靠性硬件設計服務

服務優勢

服務流程

關鍵詞:芯片
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