連續排放監測(CEMS/AMS)過程分析儀
*連續排放監測系統(CEMS)
“atmosFIR CEM”是一個完整的連續排放監測系統(CEMS)，包含 atmosFIR 19“機柜式 FTIR分析儀，產品可提供濕熱氣體排放測量。atmoFIR CEM 是監測多種氣體的理想選擇，如在垃圾焚燒和電力系統應用，其提供CO, NO, NO2, N2O, SO2, NH3, HCl, HF, CH4, O2, CO2 和H2O等標準氣體套件。產品強大的 FTIR 分析儀，可以在軟件中輕松添加更多種檢測氣體，這一特性使其能夠經濟有效地滿足未來發展的排放要求。檢測系統的核心是高分辨率、持續耐用且經過驗證的 FTIR 光譜儀，提供高信號容量，低噪聲和長壽命的組件。atmosFIR 經過改進和技術升級，包含一個內置采樣系統，用于 ppm 級排放監測。對于排放應用，atmosFIRr CEM 包含從系統內部加熱采樣系統的管理到加熱管線，探頭以及全方面氣體選項，包括 6 個調節閥，可用于直接校準分析儀或檢測探頭，具體配置取決于當地監管機構的要求。
Protea 的 PAS-Pro 操作軟件使用的分析算法(對可測量的氣體數量沒有限制)收集和分析紅外光譜，而且還管理系統的全面自動化，提供標準的 Modbus Serial、Modbus TCP/IP 和 OPCServer 數據，并實時報告原始和校正監控結果。
認證：
·符合 EN 15267-3、QAL1 和 EN14181 的要求；
·符合美國環保署 40cfr 第 60 和 75 部分的要求。
atmoFIR CEM 是一個應用 FTIR 技術的完整多氣體分析儀系統：
·垃圾焚化排放監測；
·發電產生的燃燒排放；
·核心 FTIR 模塊可集成；
·符合 EN 15267-3, QAL1 和 EN14181 認證。
atmosFIR CEM 的測量組件
atmosFIR CEM 的技術核心是為各種不同過程或排放應用配置 atmosFIR FTIR 氣體分析儀，具體氣體分析要求請聯系 Protea。標準的焚燒排放應用包括相應氣體測試范圍，系統可以提供支持滿足客戶需求的應用?！さ湫晚憫獣r間：在 1cm-1 分辨率下<200s(T90)；·精度±2% FSD；·線性范圍<2%；
·重復性(σ) <1%范圍；
·零點漂移<±2% FSD 24 小時非累積；
·漂移(跨度)<±2% FSD 24 小時非累積。
性能特點：
可變分辨率 FTIR 分析：高分辨率用于復雜識別，低分辨率用于測量速度；
·現場更新能力：監測和報告的氣體可以通過軟件更新來添加；
·干濕氣體報告：氣體濃度可報告在濕或干的基礎上，操作員可選擇；
·氧或水正態化：監測范圍可以按照監管機構的要求進行規范化報告
·低維護 VCSEL 參考：與氦激光方法相比，降低了擁有成本；
·光譜檢索：可以檢索和分析光譜，從而識別未申報的氣體；
·氧氣測量：降低整個監控系統的成本；
·自動調零和校準驗證：在日常操作中不需要操作人員干預；
·可危險區域選項：安裝在危險區域 1 區或 2 區兼容機柜(咨詢工廠)；
·高級分析：通過全紅外光譜的多氣體分析，可以測量的氣體數量沒有限制；
·內置稀釋和線性檢查：質量流量控制器允許樣品的動態峰值，樣品稀釋和線性檢查；
·系統規范：大氣連續排放監測系統；
·光譜范圍：標準排放監測 1cm-1 (0.7cm-1 )，2、4、8 cm-1 均可用，無需更換硬件；
·精度:量程±2%；
·橫向靈敏度：Minimal - PAS-Pro 操作軟件分析紅外光譜使用的分析算法，最小化交叉靈敏度；·響應時間，T90:應用和氣體相關，滿足≤200 秒的 EN 15267-3 性能。T90 <100 秒可達到的具體應用程序；
·光源:中紅外光源，使用壽命長
·檢測器：DTGS 與信號采樣在 24 位 ADC
·光學元件:硒化鋅分束器(不吸濕)
·激光器:固態激光器(不需要定期維護)，與氦氖激光器相比壽命長(10 年)
·工作環境：工作溫度范圍+5℃ —- +40℃范圍
·樣品電池：材料為鎳涂層鋁電池，專有的多層涂層合金鏡面基板，體積:300 毫升，路徑長度:4.2m，標準，溫度:180℃。
·采樣系統：加熱前電池過濾器為氧化鋯氧傳感器提供額外的防塵保護，用于平行 O2 測量，自動
氮氣吹掃閥。系統功率:1.5kW，加熱線 100W/m，檢測在本地供電。4 bar(g)連續干燥，無油，無顆粒。自動調零 0.5 bar (g) 3l/min，通常每 24 小時 7 分鐘?？缍葰怏w：自動驗證 1 bar(g) 3l/min
用于系統檢查
系統輸出：
·模擬輸出:16 x 4-20mA(需要額外的輸出卡) ；·模擬輸入:5 × 4-20mA；·數字:Modbus 串行，Modbus TCP/IP 和 OPC 服務器數據(均為標準)。
atmosFIR CEM 采樣參數
·采樣率:2.5lpm，文丘里孔控制
·樣品控制:加熱電感器
·樣品線:4/6mm PTFE 加熱至 180°C，樣品線溫度報警器。
·樣品探頭:2μm PTFE 過濾器加熱至 180°C，樣品探頭溫度報警器。
