X射線衍射儀 XRD-7000
易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時(shí)代！
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精細(xì)Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號: XRD-7000所屬品牌: Leica產(chǎn)品型號: XRD-7000 額定功率：按實(shí)際方案提供所屬類別: 光譜儀(ICP/AAS/FTIR/UV)所屬用途: 金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性: 易操作、多功能、多用途下載相關(guān)資料
MAXima_X XRD-7000
高精度樣品水平型測角儀S
| 配備具有0.0001°較小步進(jìn)的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。 · XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定大型樣品。· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細(xì)化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進(jìn)行350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測定。 |
采用強(qiáng)大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
使用多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)的測定實(shí)例
