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鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 15/LS 15

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京歐波同光學技術有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/9/18 9:39:12
  • 訪問次數178
產品標簽:

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北京歐波同光學技術有限公司,是一家具有外資背景的多元化的科技集團公司,是實驗室分析解決方案的!歐波同成立于2003年(總部位于香港),旗下擁有國際貿易、行業解決方案研發、第三方技術服務、融資租賃等業務板塊。公司經過十多年的發展已經與德國蔡司(ZEISS)公司、美國Gatan公司等多家國際品牌建立戰略合作伙伴關系,公司總營業額超6億,旗下員工200余人。
鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVOMA15/LS15詳細描述:品牌:卡爾·蔡司型號:EVOMA15/LS15制造商:德國卡爾蔡司公司經銷商:歐波同有限公司免費:【品牌故事】世界可見光及電子光學的企業——德國蔡司公司始創于1846年
鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 15/LS 15 產品信息
鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 15/LS 15


詳細描述:

品牌:卡爾·蔡司

 型號:EVO MA 15/LS 15

 制造商:德國卡爾蔡司公司

 經銷商:歐波同有限公司

免費:


【品牌故事】 

     世界可見光及電子光學的企業——德國蔡司公司始創于1846年。其 電子光學前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋)和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗,電子光學成像技術在世界上創造了數個里程碑:

    -與AEG公司合作實現了透射電子顯微鏡的商業化(1949)
    -陸續推出的EM9型電子顯微鏡是世界上具有自動曝光控制的電磁式
    -透射電子顯微鏡TEM(1956)
    -推出EM902型配用Castaing-Henry過濾器商用電子顯微鏡,用戶利用
    -該種新產品能夠得到高分辨率元素分布圖片(1984)
    -配用靜電電磁物鏡(Gemini技術)的場發射掃描電子顯微鏡DSM982
    -Gemini投放市場(1993)
    -推出具有Koehler照明的200KV場發射透射電鏡(2003)
    -推出具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場發射透射電鏡(2003)

    CARL ZEISS其前瞻性和完善的設計,融合歐洲至上的制造工藝, 造就了該品牌在光電子領域的地位。自成立至今,一直延續不 斷創新的傳統,公司擁有廣泛的專有技術,隨著離子束技術和基于電子束的 分析技術的加入,可為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案。其產品的高性能、 高質量、高可靠性和穩定性已得到世界范圍內廣大用戶的信賴與認可。

    作為一家電子光學產品提供商,我們將為您提供完善的納米技術解決方案,并且以專業化的手段讓您的投資物有所值。無論您是企業還是科研機構,卡爾 蔡司在高質量電子光學系統方面優良的傳統都會為您的業績做出積極的貢獻。


 【總體描述】
       蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO MA 15的問世,將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代,超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案,自動化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測工作,EVO MA 15作為一款研究級掃描電鏡能夠為您提供的視覺圖像和泛的應用領域。

  【技術參數】
    分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 
    加速電壓:0.2—30KV 
    放大倍數:5—1000000x 
    探針電流:0.5PA-5μA
    X-射線分析工作距離:8.5mm     35度接收角
    壓力范圍:10—400Pa (LS15:環掃模式10-3000Pa)
    工作室:365mm(φ)×275mm(h)
    5軸優中心自動樣品臺:X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°

    較大試樣高度:145mm,大試樣直徑:250mm
    系統控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系統
    存儲分辨率為32,000 x 24,000 pixels

【主要特點】
   
能在可變壓力下操作 
    *X射線和EBSD分析
    可移動大平臺
    快抽真空
    未來的保證,可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
    高亮度LaB6資源選擇
    光線套選擇

 【產品應用】
       
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。


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