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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

DM2500 MMEDXRF輕中元素光譜儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海愛(ài)斯特電子有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/9/5 17:41:38
  • 訪問(wèn)次數(shù)206
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海愛(ài)斯特電子有限公司主要從事X射線類儀器特別是X射線熒光光譜儀的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)。公司骨干具有數(shù)十年X射線熒光光譜儀的研制經(jīng)驗(yàn),員工80%以上具有本科以上學(xué)歷。公司擁有單色激發(fā)X射線熒光分析技術(shù)等核心技術(shù)及多項(xiàng)。公司自1992年成立以來(lái),已生產(chǎn)DM系列X熒光鈣鐵分析儀、測(cè)硫儀、多元素分析儀、波長(zhǎng)色散光譜儀等一萬(wàn)多臺(tái)。公司還大量生產(chǎn)X射線灌裝液位計(jì)、X射線測(cè)厚儀等。公司用戶遍布全國(guó)各地,在建材行業(yè),全國(guó)水泥廠大部分已使用本公司的分析儀,在石油、環(huán)保行業(yè),本公司的X熒光測(cè)硫儀。目前公司還涉足冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品機(jī)械等多個(gè)行業(yè)。公司位于人杰地靈的金山區(qū),在國(guó)家高速公路G1501亭楓公路出口旁,公司占地12畝,廠房面積7500平方米,固定資產(chǎn)近億元。本公司每年的科技投入占銷售額的15%以上。公司產(chǎn)品無(wú)論技術(shù)、質(zhì)量、均居國(guó)內(nèi)地位,擁有多項(xiàng),部分產(chǎn)品達(dá)到甚至超過(guò)國(guó)外同類產(chǎn)品。其中DM2100型X熒光多元素分析儀被認(rèn)定為上海市*成果轉(zhuǎn)化項(xiàng)目,并獲上海市科技創(chuàng)新基金和國(guó)家發(fā)明。目前本公司所有產(chǎn)品均已不使用同位素放射源,并自獲得一張輻射豁免證書(shū)后,公司大部分儀器均已獲得輻射豁免證書(shū),均為真正綠色環(huán)保產(chǎn)品。
多單色激發(fā)實(shí)現(xiàn)高峰背比,使能測(cè)元素(B~Zn),其準(zhǔn)確度媲美大型波長(zhǎng)色散光譜儀 通用型滿足各行各業(yè)任何種類物料元素濃度的測(cè)量要求 采用 多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù) 對(duì)數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實(shí)現(xiàn)衍射并作為二次靶 高計(jì)數(shù)率、高分辨率 ...
DM2500 MMEDXRF輕中元素光譜儀 產(chǎn)品信息

DM2500

MMEDXRF輕中元素光譜儀

(通用型)


多單色激發(fā)實(shí)現(xiàn)高峰背比,使能測(cè)元素(BZn),

其準(zhǔn)確度媲美大型波長(zhǎng)色散光譜儀


通用型滿足各行各業(yè)任何種類

物料元素濃度的測(cè)量要求


采用

多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù)

對(duì)數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實(shí)現(xiàn)衍射并作為二次靶

高計(jì)數(shù)率、高分辨率、高透過(guò)率(AP3.3)SDD探測(cè)器

電壓電流靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源


符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085


概述

DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀,詳稱DM2500多單色激發(fā)能量色散X射線熒光輕中元素(BZn)光譜儀,是本公司集數(shù)十年X熒光光譜儀的研究經(jīng)驗(yàn),在公司原有DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀、X熒光光譜儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種具創(chuàng)新性的XRF光譜儀。它采用多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shù)。主要部件,如:?jiǎn)紊w采用本公司研制的具有本公司的對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦鍺單色晶體,X射線管采用KeyWay公司生產(chǎn)的50W微焦點(diǎn)大輻射角薄鈹窗X射線管,并對(duì)其高壓、電流、靶材進(jìn)行組合, X射線探測(cè)器采用德國(guó)Ketek公司生產(chǎn)的具有高計(jì)數(shù)率、高能量分辨率、高透過(guò)率的常溫用SDD半導(dǎo)體X射線探測(cè)器。并且采用具有本公司自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的輕元素專用的光學(xué)系統(tǒng)及多種方法組合使用的多個(gè)單色激發(fā)系統(tǒng)等的技術(shù),極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統(tǒng),樣品自旋裝置,特別適合粉末壓片樣品,且可根據(jù)應(yīng)用選擇真空系統(tǒng)或自充氣系統(tǒng)。由此使本光譜儀達(dá)到水平。在與大型波長(zhǎng)色散光譜儀的比較試驗(yàn)中,其大部分性能指標(biāo)接近或達(dá)到大型波長(zhǎng)色散光譜儀的性能指標(biāo),某些甚至超過(guò)。其性能指標(biāo)相比進(jìn)口同類產(chǎn)品更好,而價(jià)格僅為進(jìn)口同類產(chǎn)品的一半,具有的價(jià)格性能比。另外國(guó)內(nèi)企業(yè)售后服務(wù)的方便程度是國(guó)外企業(yè)所無(wú)法相比的。且本光譜儀良好的屏蔽防護(hù)設(shè)計(jì)保證無(wú)任何射線泄漏,滿足輻射豁免要求。

適用范圍

DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各行各業(yè)所有物料的含量測(cè)量。無(wú)論環(huán)保、冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品等各行業(yè),還是壓片、熔片、液體等各類型樣品,只要用戶所要求的測(cè)量元素在B(5)Zn(30)的范圍內(nèi),DM2500都能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。其符合幾乎所有元素測(cè)定XRF光譜法標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求,如:國(guó)家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學(xué)分析方法 第11部分:氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、GB/T4333.5-2016 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測(cè)方法 第16部分:元素含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測(cè)定.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(常規(guī)法)》等。其還符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》、JB/T11145—2011X射線熒光光譜儀》。

如貴用戶對(duì)某些元素的測(cè)量有特殊的要求,則本公司可根據(jù)用戶的要求更改單色激發(fā)系統(tǒng)和或軟件系統(tǒng)以滿足用戶對(duì)測(cè)量元素的要求。


特點(diǎn)

快速同時(shí)所需測(cè)量元素同時(shí)快速分析,一般幾十秒給出含量結(jié)果。

高準(zhǔn)確度采用*MMEDXRF技術(shù),LSDCC核心技術(shù),根據(jù)所要測(cè)量的元素來(lái)選擇單色光的能量及產(chǎn)生單色光的方法,極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比,具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性,的準(zhǔn)確度。

向下照射采用X射線向下照射系統(tǒng),杜絕了樣品粉末污染損壞探測(cè)系統(tǒng)的可能,特別適合粉末壓片樣品。

樣品自旋具有樣品自旋裝置,消除了壓片樣品中由于特硬物質(zhì)的存在而不易粉碎造成的樣品不均勻性。

長(zhǎng)期穩(wěn)定采用可變?cè)鲆鏀?shù)字多道,有PHA自動(dòng)調(diào)整、漂移校正、偏差修正等功能具的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品,無(wú)污染,無(wú)需化學(xué)試劑,也不需要燃燒。

使用方便觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可,真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性一體化設(shè)計(jì),集成化程度高,環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng),抗力強(qiáng),可靠性高。

高性價(jià)比無(wú)需鋼瓶氣體,運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國(guó)外同類產(chǎn)品的一半。是真正的高性價(jià)比產(chǎn)品。

技術(shù)


同標(biāo)準(zhǔn)型

校準(zhǔn)

X熒光分析方法是一種參考方法,校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過(guò)比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強(qiáng)度來(lái)得到定量分析的結(jié)果。其某元素的含量計(jì)算式(即校準(zhǔn)曲線)為:

CDEICFIC 2                                                     1

式中,IC =f(I0)I0為原始強(qiáng)度(即原始道計(jì)數(shù)率),IC為處理后強(qiáng)度(或修正后強(qiáng)度),DEF是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是:用光譜儀測(cè)量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強(qiáng)度,利用回歸分析,例如最小二乘法,確定(1)的系數(shù)。

用已知含量的某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn),得到的數(shù)據(jù)如表1

1.某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)(ppm

元素

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

系數(shù)D

-489.8

-66.93

-0.34

-276.9

-372.7

-158.1

-140.2

系數(shù)E

0.9447

6.458

1.58

1.074

1.251

0.2932

0.854

系數(shù)F

0

0

0

0

0

0

0

相關(guān)系數(shù)γ

0.9612

0.9971

0.9956

0.9833

0.9977

0.9561

0.9742

這些校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)γ 均大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。

重復(fù)性

對(duì)某單位鋁用碳素樣品中的某一樣品,進(jìn)行11次測(cè)量,得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2

2.某單位鋁用碳素樣品重復(fù)性測(cè)量數(shù)據(jù)分析(ppm

元素

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

理論值

111.5

223

1.56

311.8

410

242

242

平均示值

105.80

225.36

1.55

312.52

412.91

232.61

235.02

示值

108.09

228.23

1.56

315.88

418.04

234.13

237.35

最小示值

102.4

223.19

1.54

310.3

410.69

231.48

233.87

極差

5.69

5.04

0.02

5.58

7.35

2.65

3.48

示值標(biāo)準(zhǔn)偏差

2.11

2.13

0.0071

2.21

3.01

0.96

1.41

3倍示值標(biāo)準(zhǔn)偏差(儀器重復(fù)性限)

6.33

6.39

0.021

6.63

9.03

2.88

4.23

GB/T176重復(fù)性限

15

23

0.033

15

15

9

8

YS/T63.16允許差

35

45

0.10

30

25

25

20

DM2500YS/T63.16的符合性

遠(yuǎn)優(yōu)

遠(yuǎn)優(yōu)

優(yōu)

遠(yuǎn)優(yōu)

優(yōu)

遠(yuǎn)優(yōu)

優(yōu)

注:粉末壓片樣品。在X射線源為半功率(25W),測(cè)量時(shí)間為300s的條件下,連續(xù)進(jìn)行11次測(cè)量所得的結(jié)果。

從上表可知:光譜儀的重復(fù)性限均小于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測(cè)方法 第16部分:元素含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜分析方法》所要求的重復(fù)性限。所以,DM2500光譜儀可實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性,滿足YS/T63.16—2019有關(guān)重復(fù)性的要求


主要技術(shù)指標(biāo)


測(cè)量元素

可選擇B(5)Zn(30)中的任意元素

X射線管

電壓:≤50keV,電流:≤2mA,功率≤50W,靶材:AgMoRhPdCr等可選)

探測(cè)器

SDD,有效面積:20mm2,分辨率:≥123eV,計(jì)數(shù)率:≤2Mcps,入射窗:AP3.3

檢測(cè)限(300s

C2.0%N1.0%O0.5%F0.15%

Na30ppmMg20ppmAl10ppmSi/P/S/Cl2.0ppmK-Zn3.0ppm

測(cè)量范圍

檢測(cè)限的3倍~99.99%

重復(fù)性限

滿足幾乎所有元素測(cè)定XRF光譜法標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求,如:GB/T 176—2017GB/T3286.11-2022GB/T4333.5-2016YS/T63.16—2019GB/T24198-2009

系統(tǒng)測(cè)量時(shí)間

1999s,推薦值為300s

測(cè)量氛圍

自充氣系統(tǒng)或氦氣

使用條件

環(huán)境溫度:540℃,相對(duì)濕度:≤85%(30),供電電源:220V±20V50Hz≤200W

尺寸及重量

540mm×500mm×450mm35kg

注:檢出限與樣品基體有關(guān)。

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