HORIBA XGT-1000WR主要技術指標：

1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）

2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、 檢測倉內部尺寸：不超過460×360 mm（高150 mm）

4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）

5、 檢測器：高純硅檢測器 XEROPHY

6、 設備重量：約 265 kg（不含桌子、計算機）

7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8、 信號處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。

                    HORIBA擁有堀場制作所擁有70多年的X射線分析技術沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款經典機型。其X熒光光譜儀被廣泛推薦使用，廣泛應用于RoHS，ELV，WEE的檢測和過程控制