業(yè)務挑戰(zhàn)
電子元器件失效的原因是什么?
電子元器件對環(huán)境的耐受性能如何?
如何保證電子元器件的可靠性?
服務內(nèi)容
1.適用測試標準
GB/T 2423/IEC 60068系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗;
MIL-STD-883K微電子器件試驗方法和程序;
MIL-STD-202美軍標電子及電氣元件測試方法;
GJB 150系列裝備實驗室環(huán)境試驗方法;
GJB 360B電子及電氣元件試驗方法;
GJB 548B微電子器件試驗方法和程序;
GJB 4027A電子元器件破壞性物理分析方法;
JESS 22系列環(huán)境可靠性測試;
J-STD 002E元器件引線、端子、焊片、接線柱和導線的可焊性測試;
J-STD 020E非氣密性固體表面貼裝器件的濕熱敏感等級;
J-STD 035非氣密性封裝電子元器件的聲學顯微鏡掃描等。
2.適用產(chǎn)品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機電元件、傳感器等。
3.常規(guī)樣品要求
請聯(lián)系我們的業(yè)務或客服,以具體標準為準。
4.檢測項目
主要測試項目 | |
---|---|
X-ray透視檢查 | 濕熱敏感等級 |
SEM掃描電鏡 | XRD測試 |
超聲波顯微掃描 | PCT/HAST高加速應力試驗 |
微探針應用 | 高溫 |
HTOL/LTOL高/低溫操作壽命 | 溫度循環(huán) |
THB溫濕度偏壓 | Reflow回流焊 |
LCR電感電容電阻量測 | 溫濕度 |
I-V曲線量測 | 氣態(tài)冷熱沖擊 |
切片分析 | 液態(tài)冷熱沖擊 |
開封 | 絕緣電阻 |
引線鍵合強度 | 耐電壓 |
可焊性 | 壽命 |
耐焊接熱 | 機械振動 |
金屬耐溶解性 | 機械沖擊 |
解決方案
CTI華測檢測提供全面的可靠性測試一站式解決方案,包括:
環(huán)境測試
可靠性測試
可靠性設計
可靠性分析
產(chǎn)品評估
可靠性培訓及咨詢
我們的優(yōu)勢
擁有眾多*儀器設備并通過CMA/CNAS資質(zhì)認可,測試數(shù)據(jù)準確可靠,檢測報告具有國際公信力。
科學的實驗室信息管理系統(tǒng),保障每個服務環(huán)節(jié)的高效運轉(zhuǎn)。
技術專家團隊實踐經(jīng)驗豐富,可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務。
服務網(wǎng)絡遍布,眾多合作實驗室。
服務流程
咨詢客服→確認測試方案→填寫申請表→寄送樣品→支付測試費用→測試→發(fā)送報告和發(fā)票