商品描述
小型臺式X射線衍射儀：用于粉末材料鑒別，物相分析，材料物相的定性定量分析，晶體結構分析。
Olympus新一代BTX™ III移動X射線衍射(XRD) 分析儀在現場和實驗室更快地提供定量礦物學結果。強大、直觀的軟件與兩個系統上的新型X射線探測器相結合，可以提高速度并提供結果使您快速、自信地做出決策。
一個數據儀表板：在一個視圖中查看所有結果、校準和分析信息，以加快工作流程。
無線功能：使用具有無線功能的任何設備（如筆記本電腦、平板電腦或電話）獲取實時結果并操作儀器。
輕松導出數據：輕松導出定量礦物學/相ID結果以便進行顯示或進一步的數據分析，使用網絡文件夾訪問原始數據文件以便分析衍射圖（適用于喜歡使用第三方軟件進行人工分析的用戶）。
Olympus的BTX III的分析性能仍不遜色，可用于臺式實驗室的分析。
樣品制備簡便
奧林巴斯的簡化了樣品制備和XRD衍射數據收集過程。傳統XRD設備需要樣品量多，通過壓片確保樣品晶粒的隨機取向效應，而BTX III 采用振動樣品模式，使得所有的晶粒對流從而減弱晶體取向影響。同時，所需要的樣品量約15毫克，易于獲得。得益于的振動倉、透射幾何結構和簡便的樣品轉載，無需專業的技術培訓也能勝任操作。
XPowder軟件
隨BTX II一起運送給用戶的有一個用于處理X射線衍射數據結果所必需的軟件（XPowder）。 這個軟件中包含AMCSD礦物數據庫。
針對定量分析，XPowder為用戶提供了各種參考密度比率（RIR）定量分析方式以及對各種衍射圖案進行分析的工具。
此外，BTX II還可以多種文件格式提供XRD圖案數據，從而可使用戶方便地獲得第三方項目中的XRD圖案的判讀信息。
X射線衍射數據
包含搜索/匹配及XRD定量分析軟件
X射線熒光數據
XRF的定性掃查
連通性
BTX II可以獨立于嵌
BTX的技術規格
| XRD分辨率 | 0.25o 2? FWHM |
|---|---|
| XRD范圍 | 5 - 55o 2? |
| 探測器類型 | 1024 x 256像素；2維Peltier致冷CCD |
| XRF能量分辨率 | 200 eV，5.9 keV |
| XRF能量范圍 | 3～25 keV |
| 樣本顆粒大小 | <150 μm碾碎礦石（100目篩，150 μm) |
| 樣品量 | 約15 mg |
| X射線管靶材 | 鈷或銅（鈷為標準配置) |
| X射線管電壓 | 30 kV |
| X射線管功率 | 10 W |
| 數據存儲 | 40 Gb，堅固耐用的內部硬盤驅動器 |
| 無線連接 | 802.11 b/g，從網絡瀏覽器進行遙控 |
| 工作溫度 | 10oC～35oC |
| 重量 | 12.5 kg |
| 尺寸 | 30 x 17 x 47厘米（11.75 x 6.9 x 19.5英寸） |
| 電源要求 | 簡單AC電源（無冷卻系統） |
BTX可以獨立于嵌入儀器本身的軟件而操作。用戶可以通過無線連接（802.11b/g），訪問操作系統。這種的操作方式在控制儀器和隨后的數據處理方面具有極大的靈活性。
