在微電子和半導(dǎo)體行業(yè)中，檢驗(yàn)、過(guò)程控制或缺陷和故障分析的速度至關(guān)重要。檢測(cè)缺陷的速度越快，您做出響應(yīng)的速度也就越快。
視場(chǎng)寬敞 30%
DM3 XL 檢驗(yàn)系統(tǒng)憑借大視場(chǎng)幫助您的團(tuán)隊(duì)更快地識(shí)別缺陷，提高您的收益率。充分利用的宏觀物鏡，視場(chǎng)寬敞 30%。
更多細(xì)節(jié)盡收眼底，工作更高效
看到更多細(xì)節(jié)意味著工作更高效。為快速掃描達(dá)到 6" 的大組件，DM3 XL 提供的宏觀物鏡。
利用 0.7x 放大倍率，它可以即刻采集 35.7 mm 的視場(chǎng) – 比其他常規(guī)掃描物鏡寬敞 30%。
在宏觀物鏡下，缺陷無(wú)所遁形：
- 提高您的收益率
- 可靠檢測(cè)晶片邊緣或中心顯影不足的區(qū)域
- 檢測(cè)不均勻的徑向膜厚度
適用于所有相襯觀察方法的 LED
DM3 XL 針對(duì)所有相襯觀察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色溫，并在所有亮度等級(jí)下提供真彩色成像。
- 在所有亮度等級(jí)下實(shí)現(xiàn)真彩色成像
- 自由調(diào)節(jié)
- 無(wú)需更換燈泡 – 無(wú)停機(jī)時(shí)間
- 可復(fù)制的結(jié)果
由于 LED 使用壽命長(zhǎng)，耗電量低，因此還具有巨大的成本節(jié)約潛力。
光學(xué)“高手”
DM3 XL 讓您以實(shí)惠的價(jià)格享受到的光學(xué)性能。
- 采用斜射照明檢驗(yàn)側(cè)面、邊緣或碎屑：以簡(jiǎn)單有效的方式從不同角度照亮樣品，從而實(shí)現(xiàn)各種形貌的可視化。
- 借助深暗場(chǎng)對(duì)比檢測(cè)樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。
您將對(duì)明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。
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不同樣品 – 可變載物臺(tái)插件
無(wú)論您想要檢驗(yàn)的樣品是哪種類型，尺寸如何，均有種類豐富的載物臺(tái)插件供您選擇：
- 載物臺(tái)尺寸：150 mm x 150 mm
- 載物臺(tái)插件：金屬插件、晶片支座或掩模支座
- 快速的粗略或精準(zhǔn)載物臺(tái)定位
工作舒適直觀
彩色編碼光圈輔助 (CCDA) 對(duì)分辨率、對(duì)比和景深的基本設(shè)置進(jìn)行簡(jiǎn)化，有助于提升您的工作速度，并減少操作失誤。
直觀明了的功能幫助您的團(tuán)隊(duì)更快速地交付理想結(jié)果。
- 得益于可輕松操作的控件，用戶可在切換對(duì)比度或照明時(shí)，雙手繼續(xù)操作顯微鏡，雙眼專注于樣品之上。
- 右手可輕松操控光強(qiáng)控制器
- 使用可變?nèi)梭w工學(xué)鏡筒和調(diào)焦旋鈕，根據(jù)不同身高調(diào)整顯微鏡
