蔡司SEM場發射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300掃描電鏡具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環境參數，使FESEM初學者也能快速掌握
更靈活的成像方式
1.無論是用戶還是初學者，蔡司SEM場發射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300將讓您體驗到在更高的分辨率和更佳的襯度下進行極大視野范圍成像的樂趣，
2.并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實現。
3.得益于高效的信號采集系統和優異的分辨率性能，可實現快速、高質量、無畸變的大范圍成像；
4.創新設計的高分辨率電子槍模式，為對磁性樣品、不導電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案；
5.蔡司獨樹一幟的鏡筒內能量選擇背散射探測器，在低電壓下也可輕松地獲得高質量的樣品材料襯度圖像；
6.NanoVP技術讓您可以使用鏡筒內Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導電樣品進行高靈敏度、高分辨成像。
