產品介紹
設備名稱：場發射透射電子顯微鏡
型號： Tecnai G2 F20 S-Twin
廠家： 美國FEI 公司
主要用途：
? 該電鏡是一臺功能強大的材料分析型電子顯微鏡，廣泛應用于生物、醫藥、化工、金屬、半導體材料、
高分子材料、陶瓷、納米材料等領域，可對材料的粒度、形貌、成分、內部結構和缺陷進行分析；
? 其配備的STEM/HAADF附件可以成和原子序數相關的像，和能譜儀結合還可以很方便的測量樣品微區
元素的線分布和面分布，對于高分辨像的解析非常有利；
? 像素高達2K×2K的CCD可以及時將電子顯微像轉換成數字照片進行輸出，方便了用戶。
主要配置：
? Gatan 894 CCD（2K×2K）
? STEM/HAADF探測器
? 美國EDAX能譜儀
? 低劑量曝光
? 單傾樣品桿、雙傾樣品桿、低背景雙傾樣品桿
性能指標：
? 場發射電子槍
? 加速電壓：20-200 kV連續調節
? 放大倍數：25-1,000,000
? 點分辨率：0.24nm
? 線分辨率：0.102nm；
? 信息分辨率:≤0.14nm
? STEM分辨率：0.20 nm
? STEM放大倍數:200-100,000,000
? EDS分辨率:優于136 eV，分辨元素范圍B5-U92
? 樣品傾角：±40°
