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JSM-7900F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/7/26 16:40:39
  • 訪問(wèn)次數(shù)190
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北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

       培科創(chuàng)新是一家專注于科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商,我們?yōu)楦咝!⒖蒲性核⑵髽I(yè)等各類客戶提供全面的儀器設(shè)備解決方案。公司成立于2012年,總部設(shè)在北京,在上海、深圳、沈陽(yáng)等地設(shè)有多個(gè)辦事處。
      培科創(chuàng)新,與多家儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系,不斷優(yōu)化提升的公司自身營(yíng)運(yùn)和服務(wù)質(zhì)量,致力于向用戶提供國(guó)際的產(chǎn)品、化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務(wù),承擔(dān)著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責(zé)任,服務(wù)并推動(dòng)科學(xué)研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

       培科創(chuàng)新,秉承高度負(fù)責(zé)和誠(chéng)信的原則展開(kāi)業(yè)務(wù),努力營(yíng)造員工和客戶之間互相尊重、坦誠(chéng)溝通、高效互動(dòng)的健康環(huán)境。我們了解客戶的實(shí)際需求,并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案,并盡力滿足客戶的近期和長(zhǎng)期需求。培科在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進(jìn)步,擁有遍布全國(guó)的營(yíng)銷渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)。

       優(yōu)秀的員工、科學(xué)的管理、高效的營(yíng)運(yùn)、便捷的信息網(wǎng)絡(luò)、雄厚的資金、多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)和*的經(jīng)營(yíng)理念,是我們服務(wù)于客戶的基礎(chǔ)和保證。

 

 

JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型
JSM-7900F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí),操作性能極大地簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其性能。

主要特點(diǎn):

◇  Neo EngineNew Electron Optical Engine

新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine(New Electron Optical Engine),是JEOL電子光學(xué)技術(shù)薈萃的結(jié)晶。 它綜合了透鏡控制系統(tǒng)和自動(dòng)化技術(shù),即使改變電子光學(xué)條件,光軸的偏離也極小,大大提高了可操作性及觀察精度。 無(wú)論是誰(shuí)都可以很簡(jiǎn)便地發(fā)揮出儀器原本的功能。

①  提高了自動(dòng)功能

 

礦物截面-1.jpg

       樣品 : 用CP 制備的礦物截面(樹(shù)脂包埋)                 入射電壓 : 5 kV,檢測(cè)器 : RBED,觀察倍率 : ×100,000

 

      不僅提高了自動(dòng)功能的精度,而且只需要幾秒鐘就可以聚焦。

 

②   提高了倍率的精度

 

測(cè)長(zhǎng)用的樣品-1-1.jpg測(cè)長(zhǎng)用的樣品-2-1.jpg

       樣品 : 測(cè)長(zhǎng)用的樣品(MRS5)     入射電壓 : 10 kV, 觀察倍率: ×50,000
 

      大幅度地提高了倍率的精度,而且實(shí)現(xiàn)了高精度測(cè)長(zhǎng)。

 

 

③ 能量過(guò)濾器更加易用

 

  名片-1.jpg

 

     樣品 : 名片        入射電壓 : 1.5 kV, 檢測(cè)器 : UED, 觀察倍率 : ×3,500

 

     即使大幅度改變能量過(guò)濾器的設(shè)定值,視野或聚焦位置基本不會(huì)偏離。

 

 

◇ GBSH-S (GENTLEBEAM™  Super High resolution Stage bias mode)

GBSH 是在低加速電壓下提高分辨率的一種方法。 新開(kāi)發(fā)的GBSH-S可以給樣品臺(tái)施加高達(dá)5 kV的偏壓。 因此,使用GBSH模式不需要使用專用的樣品桿就可以無(wú)縫過(guò)渡到其他模式。

※GENTLEBEAM™ 通過(guò)給樣品施加偏壓,起到了對(duì)入射電子減速,對(duì)出射電子加速的作用。

◇ 新型背散射電子檢測(cè)器 ※ 選配件

 

采用新開(kāi)發(fā)的超高靈敏度的背散射電子檢測(cè)器,可以在清晰的襯度下進(jìn)行觀察。 靈敏度比以往的產(chǎn)品提高了很多,特別是在低加速電壓下能得到高襯度的成分像。

 

舊機(jī)型                                                                                                          新機(jī)型

 

銅的截面-1.jpg

     樣品 : Cu的截面             入射電壓 : 3 kV     觀察倍率 : ×10,000  WD: 4.5 mm

 

 

◇ 新型外觀設(shè)計(jì)

     外觀設(shè)計(jì)緊湊,大大節(jié)省了安裝空間,可以支持多種安裝環(huán)境。

◇ 新的樣品交換方式

     采用新設(shè)計(jì)的樣品交換系統(tǒng)(load lock),操作簡(jiǎn)單了,不僅減少誤操作還提高了通量和耐用性。

◇ SMILENAVI

SMILENAVI 是為初學(xué)者在短時(shí)間內(nèi)學(xué)會(huì)基礎(chǔ)操作而開(kāi)發(fā)的操作導(dǎo)航系統(tǒng)。 操作人員按照流程,只要點(diǎn)擊圖標(biāo),SEM操作畫(huà)面就會(huì)聯(lián)動(dòng),依照提示引導(dǎo)即可操作。

①  強(qiáng)調(diào)操作按鈕

只要將鼠標(biāo)光標(biāo)挪到SMILENAVI的指南鍵上,SEM的GUI上的相應(yīng)鍵會(huì)出現(xiàn)方框。

 

    smilenavi-1-1.jpg          smilenavi-2.jpg

 

 

在SMILENAVI指南里點(diǎn)擊按鍵后,SEM的GUI會(huì)變成灰色來(lái)強(qiáng)調(diào)相應(yīng)鍵。

smilenavi-3.jpg

 

②  顯示照片

SMILENAVI的指南里點(diǎn)擊按鍵后,會(huì)顯示該按鍵位置的照片。


  

smilenavi-4.jpg

③  顯示操作順序的視頻

       SMILENAVI的指南里有介紹操作順序的視頻。

 

smilenavi-5.jpg

繼承了舊機(jī)型的高性能

◇ 浸沒(méi)式肖特基 Plus 電子槍

浸沒(méi)式肖特基Plus FEG 通過(guò)與電子槍和低像差聚光鏡的組合,性能進(jìn)一步得到改善,達(dá)到了更高的亮度。 能有效地收集從電子槍發(fā)射出的電子,即使在低加速電壓下,也能獲得數(shù)pA ~數(shù)10 nA 的探針電流,不用交換物鏡光闌也能進(jìn)行高分辨觀察和快速元素面分布及EBSD 分析。

 

FEG-1.jpg

◇ ACL(光闌角控制鏡)

ACL(光闌角控制鏡)位于物鏡的上方,自動(dòng)優(yōu)化整個(gè)電流范圍內(nèi)的物鏡光闌角。 因此,即使改變探針電流量,也能調(diào)整入射電子的擴(kuò)散,始終可以獲取最小的電子束斑。不管是高分辨觀察還是X 射線分析,對(duì)探針電流的大幅度變化都能輕松對(duì)應(yīng)。

 

◇ 超級(jí)混合式物鏡 / SHL

 

JSM-7900F 標(biāo)配了JEOL 開(kāi)發(fā)的電磁場(chǎng)疊加物鏡 —“超級(jí)混合式物鏡(SHL)”,對(duì)任何樣品包括磁性和絕緣材料都能進(jìn)行超高空間分辨率觀察和分析。

 

◇ 檢測(cè)器系統(tǒng)

能夠同步采集多達(dá)4 種檢測(cè)器的信號(hào)。

標(biāo)配低位檢測(cè)器(LED)和高位檢測(cè)器(UED)。 此外,還可以安裝選配件:可插拔式背散射電子檢測(cè)器(RBED)和高位二次電子檢測(cè)器(USD)。

 

檢測(cè)器.jpg

 

 

◇ 高空間分辨率觀察

 

利用GBSH,即使在極低的加速電壓下也能進(jìn)行高分辨率觀察。

 

 GBSH下,高空間分辨率觀察應(yīng)用

●  氧化物納米材料

 

gbsh應(yīng)用-1-1.jpg

 

 

     ● 金屬納米顆粒

 

金屬納米顆粒-1.jpg

 

 

◇ 低真空功能  ※選配件

 

利用低真空功能,即使是絕緣材料也不需要對(duì)樣品噴涂導(dǎo)電層,并且能很容易地進(jìn)行觀察及測(cè)試。JSM-7900F 在低真空下也擁有的空間分辨率。

 

高倍率下的觀察應(yīng)用

 ● 玻璃

玻璃-1-1.jpg

玻璃-2.jpg

 

玻璃-3-1.jpg

 

 

EDS分析應(yīng)用

● 食品

食品.jpg

 

利用低真空功能,能容易地抑制絕緣材料產(chǎn)生的充放電效應(yīng)

 

技術(shù)參數(shù)

分辨率

1.0 nm (0.5 kV)
0.7 nm (1 kV)
0.6 nm (15 kV)
3.0 nm (5 kV、WD: 10 mm、5 nA)

倍率

×10 ~ ×1,000,000

加速電壓

0.01 ~ 30 kV

探針電流

數(shù) pA ~ 500 nA

檢測(cè)器(標(biāo)配)

高位檢測(cè)器(UED)、低位檢測(cè)器(LED)

電子槍

浸沒(méi)式肖特基Plus場(chǎng)發(fā)射電子槍

光闌角控制鏡

內(nèi)置

物鏡

超級(jí)混合式物鏡/SHL

自動(dòng)功能

自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、自動(dòng)調(diào)節(jié)亮度、自動(dòng)調(diào)節(jié)襯度

大景深模式(LDF)

內(nèi)置

樣品臺(tái)

全對(duì)中測(cè)角樣品臺(tái)

樣品移動(dòng)

X:70mm  Y:50mm  Z:2 ~ 41mm   傾斜軸:-5 ~ 70° 旋轉(zhuǎn):360°

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)

5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)

樣品交換室

直徑: 100mm    高度: 40mm

抽真空系統(tǒng)

SIP、TMP、RP

關(guān)鍵詞:絕緣材料
15168338725
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