微焦斑 XRF 光譜儀 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al?到92U 的固體或液體樣品。
X-Strata920
X-Strata920
正比計數器或高分辨率 SDD
元素范圍：鈦 - 鈾，或鋁 - 鈾（SDD）
樣品艙設計：開槽式
XY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺
樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米
數量準直器：6
濾光片：1
小的準直器： x 毫米( x10 mil)
SmartLink 軟件
FT110A
FT110A
正比計數器系統
元素范圍：鈦 - 鈾
樣品艙設計：開閉式或開槽式
XY 軸樣品臺選擇： 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
樣品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
數量準直器：4
濾光片：初級 1，二級（可選）1
小的準直器： 毫米
X-ray Station 軟件
EA6000VX
EA6000VX
高分辨率 SDD
元素范圍： 鎂 - 鈾（使用氦氣吹掃時鈉 - 鈾 ）
樣品艙設計：開閉式
XY 軸樣品臺選擇：自動臺
樣品尺寸：270 x 220 x 150 毫米
數量準直器：4
濾光片：6 種模式自動切換
小的準直器： 毫米
X-ray Station & Mapping Station 軟件
FT150
FT150
高分辨率 SDD
元素范圍： 鋁 - 鈾
樣品艙設計：開閉式
XY 軸樣品臺選擇：自動臺、晶片樣品臺
樣品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
濾光片：1 或 3
毛細聚焦管 < 35 μm
XRF控制軟件
