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廣電計量檢測集團股份有限公司

FD-9分光測色儀 自動掃描分光光度計 柯尼卡美能達FD-9分光光度計

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱天津特魯斯科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號FD-9
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/7/7 18:58:55
  • 訪問次數266
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天津特魯斯科技有限公司是一家生產經營儀器儀表、檢測設備的高科技企業,我們的產品廣泛應用于航空制造,汽車工業,電力行業,造紙、紡織、印刷,石油平臺等各大工業企業。客戶遍及大江南北。我們的產品受到了社會各界的高度關注與廣泛好評。 我們秉承“不斷創新,快捷高效”的企業理念,奉行“精益求精、顧客滿意”的服務原則,以的技術、優質的產品,求實的作風,為客戶提供全程優質服務。 在此基礎上,我們將向著“更好”、“更多”、“更優”的目標大踏步邁進。
品牌美能達型號FD-9波長范圍380~730nm測光方式凹面光柵測量精度色度:σ-E000.05以內(未安尺寸寬601x深1158光度范圍0至150%光源LED類型光度計噪聲45°a重量10.5千克  柯尼卡美能達自動掃描分光光度計FD-9  柯尼卡美能達自動掃描分光光度計FD-9性能
FD-9分光測色儀 自動掃描分光光度計 柯尼卡美能達FD-9分光光度計 產品信息

  品牌 美能達 型號 FD-9 波長范圍 380 ~ 730 nm 測光方式 凹面光柵 測量精度 色度:σ- E00 以內(未安 尺寸 寬 601 x 深 1158 光度范圍 0 至 150% 光源 LED 類型 光度計 噪聲 45°a 重量 千克

  柯尼卡美能達自動掃描分光光度計FD-9

  柯尼卡美能達自動掃描分光光度計FD-9性能 ,不但能夠以世界上 快的速度*1測量標準的彩色圖表,還可以為印刷行業用戶在色彩管理方面帶來更高精度和更 率的工作流程。

  為了提高印刷領域的生產效率并同時提升產品質量,色彩管理工作的重心逐漸傾向于追求自動化。比如在以數字方式測量并控制色彩的工作流程內,既要盡可能減少人工勞動,又要保證快速和準確。為了滿足這些需求,柯尼卡美能達為圖像藝術和印刷領域推出了自動掃描分光光度計FD-9。

  FD-9擁有多個的優勢:(1)實施超高速的單點式測量,不僅測量速度更快,還能保證測量精度(2)選購的自動送紙器能夠進行連續的測量,既能提高工作效率,又能減少人工勞動。(3)自由圖表格式功能讓您可以繼續使用原有格式的圖表,甚至是直接測量混合圖表,無需重新格式化圖表。

  超快專色測量

  處理一份有?1500?個色塊的圖表,從插入色表到輸出測量數據所用的時間約為?4?分鐘。此外,FD?系列可在多種標準測量條件(M0、M1?及?M2)下通過一次測量獲得結果,因此僅需掃描一次色表。

  為確保準確性,儀器以一系列超高速動作進行掃描:它把?FD-9?的色彩傳感器定位到每個測量點,然后停止掃描動作,對該點進行測量,完成后,再移動到下一個測量點。

  對比傳統色表掃描的工作時間

  自由圖表格式

  色塊自動檢測功能使得混合了色塊和圖片或插圖(例如示例圖表?2)的印刷材料在測量時無需預設的圖表定義文件,因此現有的圖表可以繼續使用。每次測量開始時,FD-9?通過圖像傳感器對圖表進行預掃描,自動檢測測量點,然后對檢測到的色塊進行掃描測量。色塊自動檢測功能也意味著傳統色度計用來檢測色塊位置的標記符已不再需要了。

  此外,可以使用網格化測量整個頁面都充滿色塊的圖表,例如示例圖表1,以分辨哪些印刷區域的色彩不均勻。

  示例圖表1

  示例圖表2

  自動送紙器(選配件)

  選購的自動送紙器能夠將 多100個圖表同時裝入送紙器,且能連續進行測量。因為不需要頻繁地放置圖表,所以儀器也能在晚上進行色彩測量,既能提高工作效率,又能減少人工勞動。

  易讀型顯示屏

  LCD顯示屏增強了用戶操作性,并顯示FD-9的工作狀態。

  IP連接

  局域網連接功能可實現多臺電腦或其它設備共享一臺FD-9。

  測量工具軟件FD-S2w(標準配件)

  不論是否使用定義文件,均可輕松測量色表。

  可通過獲取的圖像數據創建色表定義文件,從待測點中刪除自動檢測的色塊,并可在圖片或圖案中的任何位置加入測量點。

  除了?M0、M1?及?M2?標準測量條件外,還可通過用戶自定義光源(由柯尼卡美能達分光輻射照度計?CL-500A?或分光密度計?FD-7?測量獲得)色彩。

  以多種格式輸出測量數據。

  色彩管理軟件basICColor?系列(選配件)

  可對接?FD?系列的所有型號

  可進行色彩管理、ICC特性檔文件創建以及質量控制(合格/不合格和認證)。

  集成多種特性檔功能,如?2D/3D?色域的階調曲線和⊿E的比較和顯示,并支持特性檔優化功能(如色域平滑處理、循環校準、[測量值]優化修正)。

  包含Fogra、IDEAlliance及JapanColor等質量控制體系的⊿E和TVI標準的參考檔。

  可自動創建和輸出PDF報告。

  計算機 低配置要求

操作系統Windows XP?SP3(32?位)、Windows Vista(32位、64位)、Windows7(32位、64?位)
CPU英特爾奔騰4處理器
內存512MB
硬盤可用硬盤空間不低于100MB

  全面服務支持

  柯尼卡美能達擁有龐大的服務支持網絡,包括位于美國、歐洲和亞洲的服務中心,以及日本的工廠。不論您身在何處,我們都能為?FD-9?提供快速的服務和校準支持。

  用于BCRA標準14色色板的檢查(定制)

  色板讓用戶能夠輕松檢查?FD-9?的測量值是否正確。

  FD-9?主要參數規格

照明/受光系統45°a:0°(環狀照明)*1
符合?CIE?No 15、ISO?7724/1、DIN5033?Teil?7、ASTM?E?1164?及?JIS?Z?8722?反射測量條件。
分光方式凹面光柵
波長范圍380 730?nm
波長間隔10?nm
半波寬約?10?nm
測量口徑約?3?mm
光源LED
測量范圍反射率:0?至?150%
重復性色度:σ E00??以內(未安裝偏振光濾片)
白板校正執行后,在柯尼卡美能達測試條件下,以?1?秒的間隔測量白色校正板?30?次
器間差 E00??以內(BCRA?II系列12色板的平均值,對比在柯尼卡美能達標準條件下[未安裝偏振光濾片]的測量值)
測量時間每?1500?個色塊約?4?分鐘

   柯尼卡美能達測量條件*3

輸出數據光譜反射率
測量條件*2M0?(A)、M1?(D50)、M2(A?+?UV?截斷)、C、ID50、D65、ID65、

  F2、F6、F7、F8、F9、F10、F11、F12、用戶定義光源

襯底條件白色襯底,符合?ISO
接口、10Base-T/100Base-TX
電源交流電源適配器(輸入:AC?100?至?240?V,50/60?Hz;輸出:DC?24?V,5?A)
尺寸僅適用于FD-9 寬?716?x?深?251?x?高?159?毫米?自動送紙器:寬?601?x?深?1158

  (紙盒打開時)?x?高?245?毫米

重量僅適用于?FD-9:約??千克
操作溫度/濕度范圍溫度?10?至?35°C、相對濕度?30?至?85%(無凝露)
存儲溫度/濕度范圍溫度?0?至?45°C、相對濕度?0?至?85%(無凝露)
標準配件交流電源適配器、USB?數據線、測量工具軟件?FD-S2w
選配件自動送紙器?FD-A09

  *1波長為?400?納米及以下的單向照明

  *2M0 M1?及?M2?為?ISO13655?“?照明要求和測量條件”中規定的照明條件。

  *3圖表尺寸:A3,色塊尺寸:6?x?6?毫米,色塊布局:47?行?x?32?列

可測量圖表規格

寬度45?至?330?毫米
長度170?至?660?毫米
厚度?至??毫米
小色塊尺寸6?x?6?毫米
單張紙的 塊數量1394?(A4)?

  2928?(A3)

  FD-S2w

操作環境操作系統Windows7//Windows10?

  MacOS?X?

CPU1?GHz?或以上處理器
內存1GB?或以上(32?位)/

  2GB?或以上(64?位)

硬盤可用硬盤空間不低于?8?GB
顯示器顯示器分辨率至少為?1024?x?768
接口USB?、10Base-T/100Base-TX
兼容儀器FD-9?

  FD-7/CL-500A(讀取功能僅適用于用戶定義光源)

特性圖表創建、圖表測量、測量數據顯示、測量文件輸出、QR?代碼創建
顯示的測量數據光譜反射率、色度值、密度值
測量條件*2M0?(A)、M1?(D50)、M2(A+UV截斷)、C、ID50、D65、ID65、F2、F6、F7、F8、F9、F10、F11、F12

  用戶自定義光源

照明A、C、D50、ID50、D65、ID65、F2、F6、F7、F8、

  F9、F10、F11、F12、A?+?UV?截斷、用戶自定義光源

標準觀察者2°或?10°標準觀察者
色域L*a*b L*C*h、XYZ
PC?支持語言英文、法文、德文、西班牙文、日文、中文(簡體)
輸出格式CxF3:ISO17972-1:2015

  CGATS:ISO28178:2009?(ANSI?CGATS-17)

  FD-S2w原始格式(csv/tsv)

  所示規格和外觀如有更改,恕不另行通知。

  分光光度計的分類方法有多種:按光路系統可分為單光束和雙光束分光光度計;按測量方式可分為單波長和雙波長分光光度計;按繪制光譜圖的檢測方式分為分光掃描檢測與二極管陣列全譜檢測。

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