NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統中，NanoFlip在測試（例如柱壓縮）方面表現優異，可以將SEM圖像與機械測試數據同步。NanoFlip測量迅速，這對于惰性環境（例如手套箱）中測試異質材料很關鍵。系統所配置的可選套件，例如InForce50電磁驅動器，可以提供定量結果，從而為材料研究提供有價值的解決方案。

產品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行測試，還提供翻轉機制，可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協議，并允許用戶創建自己的新穎測試方法。InForce50驅動器在真空和常壓條件下表現同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數據進行同步。創新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實現從FIB到壓痕測試的無縫過渡。

主要功能
InForce 50驅動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭

InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數

用于樣本定位的XYZ移動系統

SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數據進行同步

的軟件集成壓頭校準系統，可實現快速，準確的壓頭校準

與Windows®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發功能

主要應用
硬度和模量測量（Oliver-Pharr）

連續剛度測量

高速材料性質分布圖

ISO 14577硬度測試

聚合物的納米動態力學分析（DMA）

定量刮擦和磨損測試
工業應用
大學、研究實驗室和研究所

支柱和微球制造

MEMS（微機電系統）

材料制造（結構壓縮/拉伸/斷裂測試）

電池和元件制造