Nano Indenter® G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計。 該系統是一個可升級，可擴展且經過生產驗證的平臺，全自動硬度測量可應用于質量控制和實驗室環境。
產品描述
Nano Indenter® G200系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 該系統還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應（應變率靈敏度）。 模塊化選項可適用于各種應用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N和自定義測試。
主要功能
電磁驅動可實現高動態范圍下力和位移測量
用于成像劃痕，高溫納米壓痕測量和動態測試的模塊化選項
直觀的界面，用于快速測試設置; 只需幾個鼠標點擊即可更改測試參數
實時實驗控制，簡便的測試協議開發和精確的熱漂移補償
屢獲殊榮的高速“快速測試”選項，用于測量硬度和模量
多功能成像功能，測量掃描和流程化測試方法，幫助快速得到結果
簡單快捷地確定壓頭面積函數和載荷框架剛度
主要應用
高速硬度和模量測量
界面附著力測量
斷裂韌性測量
粘彈性測量
掃描探針顯微鏡（3D成像）
耐磨損和耐刮擦
高溫納米壓痕
工業應用
大學，研究實驗室和研究所
半導體和電子工業制造業
輪胎行業
涂層和涂料工業
生物醫藥行業
醫療儀器
更多應用：請根據您的要求與我們聯系
