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光譜橢偏儀SE-2000 多功能薄膜測試系統,適合各種薄膜材料的研究

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  • 公司名稱上海納嘉儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/7/6 15:08:08
  • 訪問次數210
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上海納嘉儀器有限公司專業致力于銷售各種科研測試類儀器與技術服務,主要代理公司的微納米級表面測量產品,著力為各高校,研究所以及高科技公司等單位提供集產品、應用和服務于一體的整體解決方案! 上海納嘉儀器有限公司主要代理多款微納米級別表面測量儀器:原子力顯微鏡&掃描探針顯微鏡,探針式輪廓儀(臺階儀,三維光學輪廓儀,色散共焦輪廓儀,光譜式橢偏儀,反射干涉儀以及各種儀器耗材等。 我們秉承“為合作伙伴創造價值”的核心價值觀,并以“誠實、寬容、創新、服務”為企業精神,通過自主創新和真誠合作為行業創造價值。 關于“為合作伙伴創造價值” 我們認為客戶、供應商、公司股東、公司員工等一切和自身有合作關系的單位和個人都是自己的合作伙伴,并只有通過努力為合作伙伴創造價值,才能體現自身的價值并獲得發展和成功。 關于“誠實、寬容、創新、服務” 我們認為誠信是一切合作的基礎,寬容是解決問題的前提,創新是發展事業的利器,服務是創造價值的根本。
測試速度:<1sec(快速測試模式)<120sec(高分辨率測試模式)測量光譜分辨率:<0.5nm@633nm(高分辨率測試模式)<0.8nm@633nm(快速測試模式)光譜范圍:193nm-2500nm
光譜橢偏儀SE-2000 多功能薄膜測試系統,適合各種薄膜材料的研究 產品信息

測試速度:<1 sec (快速測試模式)

<120 sec (高分辨率測試模式)

測量光譜分辨率:<0.5nm@633nm (高分辨率測試模式)

<0.8nm@633nm (快速測試模式)

光譜范圍:193nm-2500nm,UV-VIS-NIR不同波長范圍可選

樣品尺寸:標準200mm直徑,可選 300mm

厚度測量范圍:0.01nm-50um

厚度測試精度:0.02nm @120nm SiO2 on Si

折射率測試精度:0.002 @120nm SiO2 on Si

15700106413
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