渦流陣列檢測
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。
檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢：
?檢測時間大幅度降低。
?單次掃查覆蓋更大檢測區域。
?減小了機械和自動掃查系統的復雜性。
?提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。
?適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
?改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列軟件
簡單的數據采集和分析顯示
?C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。
?分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
?波幅、相位和位置測量。
?可調彩色調色板。
?大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
?分步進行。
?一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。
?波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。
報警
?３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
?可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長方形、環形等）。
自動探頭識別和配置
?探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。
?頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
實時數據處理
?實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。
?使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
?數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。
渦流模塊的技術規格
| 外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
| 重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
| 接口 | 1個渦流陣列探頭接口 |
| 通道數量 | 32個通道，帶內置多路轉換器 |
| 探頭識別 | 自動探頭識別和設置 |
| 發生器 | |
| 發生器數量 | 1個（帶內置電子參考） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
| 工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
| 帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 |
| 接收器 | |
| 接收器數量 | 1個～4個 |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 增益 | 28 dB～68 dB |
| 內置多路轉換器 | |
| 發生器數量 | 32個（８個時隙時，4個發生器同時工作；使用外部多路轉換器時，多達64個） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
| 接收器數量 | 4個差分接收器（每個8時隙） |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 數據采集 | |
| 數字化頻率 | 40 MHz |
| 采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發模式的延遲設定所限制。 |
| Ａ/D分辨率 | 16比特 |
| 數據處理 | |
| 相位旋轉 | 0°～360°，步距為0.1° |
| 濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ） |
| 通道處理 | 混合 |
| 數據存儲 | |
| 大文件容量 | 取決于內部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
| 數據同步 | |
| 按內部時鐘 | 1 Hz～15 kHz（單線圈） |
| 外部步速 | 有 |
| 按編碼器 | 單軸或雙軸 |
| 報警器 | |
| 報警器數量 | 3個 |
| 報警區域形狀 | 扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環形 |
| 輸出類型 | 視頻、音頻以及TTL信號 |
| 模擬輸出 | 1個（X或Y） |
