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廣電計量檢測集團股份有限公司

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京沃達谷科貿有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2023/6/24 18:01:55
  • 訪問次數254
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簡要描述:XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩定等優點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術,可精確標定薄膜標樣的負載量。
XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品 產品信息

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩定等優點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術,可精確標定薄膜標樣的負載量。

《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列,其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。

可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下(可在表格內打√選擇樣品):


元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H



Na (NaCl)

Co



Mg (MgF2)

Ni



Al

Cu



Si (SiO2)

Zn (ZnTe)



P (GaP)

As (GaAs)



S (CuSx)

Se



Cl (NaCl)

Sr (SrF2)



K (KCl)

Br (CsBr)



Ca (CaF2)

Cd (CdSe)



Sc (ScF3)

Ba (BaF2)



Ti

Pb



V

Sn



Cr

Sb



Mn

In



Fe

Mo



Ag

Hg (HgTe)


可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備,用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響;采用標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品,參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品,可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。

XRF薄膜標準樣品的安裝形式:

1、 安裝環尺寸(厚度為1.5mm的亞克力玻璃)

圓形:


代碼

外徑(mm)

內徑(mm)



25

25

17



32

32

25



36

36

29



47

47

39


推薦36號尺寸。

方形:

50x50mm方形尺寸,內置?32mm的圓環,代碼50。

2、 支撐膜材料


代碼

支撐膜材料

備注



N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜



M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)



M3.5

3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)


推薦M6.3型材料。

3、 鍍膜方式:


代碼

鍍膜位置排列



A

安裝環-元素膜-支撐膜



B

元素膜-支撐膜-安裝環

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品





15168338725
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