ICP光源觀察方式

雙向觀測：雙向觀測是在水平觀測ICP光源的基礎，增加一套側向采光光路，實現垂直/水平雙向觀測，即在炬管垂直觀測的方向依次放置3塊反射鏡，當要使用垂直觀測的時候，就通過3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過旋轉原光路的塊反射鏡，使垂直方向來的光與原水平方向來的光在整個光路中重合。該觀測方式的切換反射鏡由計算機控制，該方式融合了軸向、徑向的特點，具有一定的靈活性，增強了測定復雜樣品的能力。改觀測方式可實現以下3中方式的測量：

①全部元素譜線水平測量。

②全部元素譜線垂直測量。

③部分元素譜線水平測量，部分元素譜線垂直測量。

雙向觀測能有效解決水平觀測中存在的電子干擾，進一步擴寬線性范圍。但是該觀測方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導致儀器的穩定性變差。由于徑向觀測的需要，炬管側面必須開口，導致炬管的壽命大大降低，同時也改變了炬焰的形狀。炬管開口處必須嚴格與光路對準，要不然炬管壁容易積累鹽，會使檢測結果嚴重錯誤;同時如果在開口出現積鹽同樣也會導致儀器檢測結構存在嚴重的錯誤，必須注意清洗。而且增加了曝光次數，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀光譜分析

今天ICP光譜儀小編跟您講講光譜分析，由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據光譜來鑒別物質和確定它的化學組成.這種方法叫做光譜分析.做光譜分析時，可以利用發射光譜，也可以利用吸收光譜.這種方法的優點是非常靈敏而且迅速.某種元素在物質中的含量達10^-10(10的負10次方)克，就可以從光譜中發現它的特征譜線，因而能夠把它檢查出來.光譜分析在科學技術中有廣泛的應用.例如，在檢查半導體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光

太陽光譜譜分析.在歷，光譜分析還幫助人們發現了許多新元素.例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發現的.光譜分析對于研究天體的化學組成也很有用.十九世紀初，在研究太陽光譜時，發現它的連續光譜中有許多暗線。不知道這些暗線是怎樣形成的，后來人們了解了吸收光譜的成因，才知道這是太陽內部發出的強光經過溫度比較低的太陽大氣層時產生的吸收光譜.仔細分析這些暗線，把它跟各種原子的特征譜線對照，人們就知道了太陽大氣層中含有氫、氦、氮、碳、氧、鐵、鎂、硅、鈣、鈉等幾十種元素.

ICP光譜儀的來歷

ICP光譜儀在國內的發展也不過幾十年的時間，不可謂短或長。 電感耦合等離子體發射光譜儀（簡稱ICP光譜儀），因為具有高靈敏度，高精密度，低基體效應和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現產品儀器以來，很快在各剖析范疇得到廣泛應用，變成資料、環境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產品檢驗及科研范疇通用的無機元素剖析東西。ICP光譜儀的構造和技能也在不斷的改善和發展。1991年新的中階梯光柵固態檢測器ICP-OES儀器面世，即國內所說的全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀。1993年國外出產的該類儀器進入中國市場，目前國內還沒有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀產業化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環境下運轉，失掉這些條件，不僅儀器的運用效果欠好，并且改動儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數。依據光學儀器的特色，對環境溫度和濕度有必定請求。假如溫度改變太大，光學組件受溫度改變的影響就會發作譜線漂移，形成測定數據不穩定，ICP光譜儀通常室溫請求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度改變應小于±1攝氏度。濕度對高頻發作器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不簡單點著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等，以致損壞高頻發作器。ICP光譜儀通常室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化設備。曩昔因為基建施工，我們的環境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過大，儀器不是定位艱難即是常常發作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運轉就正常多了 以上就是對ICP光譜儀的來歷和一些知識的介紹，希望對大家對認識ICP光譜儀有所幫助。