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AEC-Q101認證試驗第三方檢測機構

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面議

具體成交價以合同協議為準

公司名稱廣電計量檢測集團股份有限公司
品牌廣電計量
型號試驗服務
所在地廣州市
廠商性質工程商
更新時間2025/3/19 11:45:43
訪問次數1418

產品標簽:

AEC-Q101 車規級電子元器件

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公司介紹主營產品

廣電計量檢測集團股份有限公司（簡稱：廣電計量）始建于1964年，于2019年11月8日登陸中小企業板，于2019年上市，是廣州無線電集團旗下的第三家A股上市公司。

廣電計量是原電子602計量站，經過50余年的發展，現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務，在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于先進水平。

廣電計量的技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可，通過了中國合格評定國家認可委員會認可（CNAS），獲得檢驗檢測機構資質認定（CMA）、農產品質量安全檢測機構（CATL）以及眾多政府和行業機構的認可資質，是“三品一標”檢測實驗室、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室，出具的證書、報告具有公信力，可幫助客戶穩健開拓市場。

廣電計量構建了覆蓋全國的服務保障網絡，在國內建有23個計量檢測基地和50多家分子公司，實驗室總面積超過16萬平方米，配置國內外設備儀器30000多臺/套，搭建的全國一體化計量檢測與認證技術公共服務平臺，可迅速響應客戶需求，為客戶提供近距離、本地化的專業服務。

廣電計量打造了一支技術水平和服務意識俱佳的服務隊伍，現有員工4000多人，其中包括各領域專家和技術帶頭人50多人，博士后、博士33人，碩士近400人。

廣電計量建有技術研究院，在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領域，先后主持編寫30多項計量測試標準及規程，承擔50多項國家、省部級等重點科研項目，獲得軟件著作權141項，積極推動了行業新技術的創新和產業化應用。

作為一家擁有高度社會責任感的國有企業，廣電計量以助推各區域經濟高質量發展、助力企業品質提升為己任。目前，廣電計量的服務能力覆蓋汽車、航空、軌道交通、船舶、通信、電力、電子電器、食品、環保、農業、醫療、石化等領域，憑借專業的計量檢測技術之力，廣電計量可幫助各行業產業鏈上下游客戶提升自身競爭力，實現產品全壽命周期的質量管控。

在品質決勝未來的發展新時代，廣電計量將繼續秉持科學、公正、準確、快捷、周到的服務理念，為高質量發展傳遞信任，為建設“和諧美麗”中國保駕護航！

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環保監測,土壤檢測,水質檢測,噪音檢測,三廢檢測,計量校準,環境可靠性測試,化學材料檢測

產品簡介在線詢價

加工定制	是	服務區域	全國
服務周期	常規3-5天	服務類型	元器件篩選及失效分析
服務資質	CMA/CNAS認可	證書報告	中英文電子/紙質報告
增值服務	可加急檢測	是否可定制	是
是否有發票	是

廣電計量AEC-Q101認證試驗第三方檢測機構在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰經驗，為您提供專業可靠的AEC-Q101認證服務，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。

AEC-Q101認證試驗第三方檢測機構產品信息

AEC-Q101認證試驗第三方檢測機構服務背景

AEC-Q101對對各類半導體分立器件的車用可靠性要求進行了梳理。AEC-Q101試驗不僅是對元器件可靠性的國際通用報告，更是打開車載供應鏈的敲門磚。廣電計量在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰經驗，為您提供專業可靠的AEC-Q101認證服務，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。

隨著技術的進步，各類半導體功率器件開始由實驗室階段走向商業應用，尤其以SiC為代表的第三代半導體器件國產化的腳步加快。但車用分立器件市場均被國外所把控，國產器件很難分一杯羹，主要的原因之一即是可靠性得不到認可。

測試周期

2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務

AEC-Q101認證試驗第三方檢測機構產品范圍

二、三極管、晶體管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、閘流管等半導體分立器件

測試項目

序號	測試項目	縮寫	樣品數/批	批數	測試方法

1	Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test	TEST	所有應力試驗前后均進行測試		用戶規范或供應商的標準規范
2	Pre-conditioning	PC	SMD產品在7、8、9和10試驗前預處理		JESD22-A113
3	External Visual	EV	每項試驗前后均進行測試		JESD22-B101
4	Parametric Verification	PV	25	3 Note A	用戶規范
5	High Temperature Reverse Bias	HTRB	77	3 Note B	MIL-STD-750-1 M1038 Method A

5a	AC blocking voltage	ACBV	77	3 Note B	MIL-STD-750-1 M1040 Test Condition A

5b	High Temperature Forward Bias	HTFB	77	3 Note B	JESD22 A-108

5c	Steady State Operational	SSOP	77	3 Note B	MIL-STD-750-1 M1038 Condition B（Zeners）

6	High Temperature Gate Bias	HTGB	77	3 Note B	JESD22 A-108

7	Temperature Cycling	TC	77	3 Note B	JESD22 A-104 Appendix 6


7a	Temperature Cycling Hot Test	TCHT	77	3 Note B	JESD22 A-104 Appendix 6


7a alt	TC Delamination Test	TCDT	77	3 Note B	JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035



7b	Wire Bond Integrity	WBI	5	3 Note B	MIL-STD-750 Method 2037

8	Unbiased Highly Accelerated Stress Test	UHAST	77	3 Note B	JESD22 A-118


8 alt	Autoclave	AC	77	3 Note B	JESD22 A-102

9	Highly Accelerated Stress Test	HAST	77	3 Note B	JESD22 A-110

9 alt	High Humidity High Temp. Reverse Bias	H3TRB	77	3 Note B	JESD22 A-101


10	Intermittent Operational Life	IOL	77	3 Note B	MIL-STD-750 Method 1037

10 alt	Power and Temperature Cycle	PTC	77	3 Note B	JESD22 A-105

11	ESD Characterization	ESD	30 HBM	1	AEC-Q101-001
			30 CDM	1	AEC-Q101-005
12	Destructive Physical Analysis	DPA	2	1 NoteB	AEC-Q101-004 Section 4

13	Physical Dimension	PD	30	1	JESD22 B-100

14	Terminal Strength	TS	30	1	MIL-STD-750 Method 2036

15	Resistance to Solvents	RTS	30	1	JESD22 B-107

16	Constant Acceleration	CA	30	1	MIL-STD-750 Method 2006

17	Vibration Variable Frequency	VVF	項目16至19是密封包裝的順序測試。（請參閱圖例頁面上的注釋H.）		JEDEC JESD22-B103

18	Mechanical Shock	MS			JEDEC JESD22-B104

19	Hermeticity	HER			JESD22-A109

20	Resistance to Solder Heat	RSH	30	1	JESD22 A-111 (SMD) B-106 (PTH)


21	Solderability	SD	10	1 Note B	J-STD-002 JESD22B102

22	Thermal Resistance	TR	10	1	JESD24-3,24-4,26-6視情況而定

23	Wire Bond Strength	WBS	最少5個器件的10條焊線	1	MIL-STD-750 Method 2037

24	Bond Shear	BS	最少5個器件的10條焊線	1	AEC-Q101-003
25	Die Shear	DS	5	1	MIL-STD-750
					Method 2017
26	Unclamped Inductive Switching	UIS	5	1	AEC-Q101-004 Section 2


27	Dielectric Integrity	DI	5	1	AEC-Q101-004 Section 3

28	Short Circuit Reliability Characterization	SCR	10	3 Note B	AEC-Q101-006


29	Lead Free	LF			AEC-Q005