MC016系列顯微熔點(diǎn)儀
MC016系列(SGW X-4B)
一、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍:
SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
二、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):
1、熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至
2、最小讀數(shù):
3、測(cè)量重復(fù)性:±
±
4、配雙目體視顯微鏡
5、光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)