otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹
otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹
這是一款小型、低成本的膜厚測量儀，可通過高精度光學干涉測量法實現易于操作的膜厚測量。
我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主機中，實現了穩定的數據采集
特征
支持從薄到厚的廣泛薄膜厚度
使用反射光譜的膜厚度分析
緊湊、低成本、非接觸、無損、高精度測量
簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
使用峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、化法等，可以進行廣泛的膜厚測量。
光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）可以通過非線性最小二乘法的膜厚分析算法進行。
測量項目
絕對反射率測量
薄膜厚度分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
測量對象
功能性薄膜、塑料
透明導電薄膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、粘合劑、保護膜、hard Coat、抗指紋代理等半導體
化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。光學材料
濾光片、增透膜等FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機薄膜、密封膠）等其他
HDD、磁帶、建材等
