無需經驗即可進行各種粉末X射線衍射測量

X射線分析綜合軟件具有強大的用戶引導功能，支持從測量到分析。該軟件基于理學的分析知識，提出光學系統并自動調整光學系統并設置測量條件。可以進行范圍廣泛的粉末 X 射線衍射測量，包括粉末輪廓測量和微小/原位測量。

在幾分鐘內測量廣角粉末 X 射線衍射圖

配備高分辨率、高速一維X射線探測器。可以在抑制背景水平的情況下進行測量，并且集成的強度效應使得檢測痕量成分變得容易。

二維 X 射線衍射測量的擴展世界

配備HyPix-400混合型多維像素探測器的型號支持顯微和原位測量。此外，可以輕松獲得有關樣品狀態的信息，例如晶粒尺寸和取向。直到現在才注意到的東西極大地擴展了可以從粉末 X 射線衍射測量中獲得的知識范圍。

支持任何測量場景

光學系統選擇單元和光學系統/試樣位置自動調整程序可實現輕松快速的光學系統切換。可根據分析目的和樣品形狀選擇光學系統和附件。

實現各種應用

各種光學系統配置可用于實現各種應用，例如反射法/透射法測量、使用多毛細管的微區測量、小角度X射線散射測量、殘余應力/極圖測量等。自動實現這些光學系統調整。

實現具有統一操作性的流暢分析環境

從分析所需的光學系統管理和測量等設備控制到數據分析，都可以在一個軟件上完成。光學傳感、引導功能和流程欄導航等功能大大提高了用戶友好性。

豐富的附件和樣品架

可提供自動6樣品交換器、10樣品自動交換器、毛細管旋轉樣品臺、αβ附件、電池單元附件、各種溫度控制附件、通用大氣分離器、非反射樣品架、透射法樣品架等。 .