ED400渦流測(cè)厚儀
ED400渦流測(cè)厚儀是ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。ED400渦流測(cè)厚儀是ED300測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。上海京工銷(xiāo)售各類(lèi)ED400渦流測(cè)厚儀，多年銷(xiāo)售經(jīng)驗(yàn)積累為您提供高效服務(wù)。儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。ED400渦流測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如：鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等)，本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
沈陽(yáng)天星ED400適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量檢驗(yàn)。
儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
ED400渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 ED400量程達(dá)到0～500μm。
＊精度高 ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊探頭線壽命長(zhǎng) 采用德國(guó)進(jìn)口的，在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠維修。
ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
沈陽(yáng)天星ED400適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量檢驗(yàn)。
儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
ED400渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 ED400量程達(dá)到0～500μm。
＊精度高 ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊探頭線壽命長(zhǎng) 采用德國(guó)進(jìn)口的，在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠維修。
ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
ED400渦流測(cè)厚儀配置與選配
標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī) 1臺(tái) 探頭 1支 基體 1塊(6063合金) 校正箔片 1片(約50μm，附檢測(cè)報(bào)告) 使用說(shuō)明書(shū) 1份 合格證 1份 保修單 1份 手提式儀器箱1個(gè) | 可選附件 備用探頭 基體 校正箔片(約50μm，附檢測(cè)報(bào)告) |
影響ED400渦流測(cè)厚儀的一些可能因素：
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)ED400渦流測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)ED400渦流測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度
每一種ED400渦流測(cè)厚儀都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
