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日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀

參考價	￥ 550000
訂貨量	≥1000臺

具體成交價以合同協議為準

公司名稱深圳九州工業品有限公司
品牌
型號ME-210/ME-
所在地深圳市
廠商性質經銷商
更新時間2023/4/7 8:59:19
訪問次數752

產品標簽:

膜厚分布測量工業電器測量儀儀器簡易設定

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深圳九州工業品有限公司，坐落于深圳市，是一家工業品綜合服務商。主要包括機電設備、電子產品、儀器儀表、工業器材的銷售及其它國內貿易、經營進出口等業務。搭建工業品供應鏈，采用與 MRO分銷商結盟的方式，把零散采購訂單集中處理，流程簡化，提供一站式供應服務。在美國、德國、日本、韓國、中國臺灣建專業國際采購團隊、技術顧問、銷售團隊為各種領域提供各類高品質的工業產品和優質的整合服務。通過與廠家建立快捷、有效的溝通，和眾多國外生產廠家建立了長久合作伙伴關系。

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設備

產品簡介在線詢價

日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T
這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。

日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀產品信息

日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T

這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。

規格
	測量
重復性	膜厚：0.1nm 折射率：0.001 *SiO2膜的一點（膜厚：約100nm）重復測量100次時的標準偏差值。
測量速度	最大測量速度 900 點/分鐘以上（寬模式，測量 100 平方毫米面積時） 5,000 點/分鐘或以上（高清晰模式，測量 1 平方毫米面積時）
光源	半導體激光器（振蕩波長636nm）
測量點	廣域模式：0.5 平方毫米高清模式：5.5 微米平方
入射角	70度
尺寸（寬 x 深 x 高）	270×337×最大631mm
兼容透明基材	兼容 ME-210-T 不兼容 ME-210
	住房
舞臺尺寸	支持最大 8 英寸晶圓（最大 ?300 mm 可選）
尺寸（寬 x 深 x 高）	ME-210-T 650×650×1744mm ME-210 650×650×1740mm
重量	約200公斤
界面	GigE（相機信號）
	其他的
界面	GigE（相機信號）
電源	AC100-240V
軟件	ME-視圖
配件	臺式電腦、顯示器、使用說明書、標準樣品