設備介紹
Tecnai G2 F30 是一臺多功能、多用戶環境的場發射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等)進行方便靈活地有機組合,形成了強大的分析功能,從而在同類型儀器中。除具有200KV的各種優點外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓,可分析更厚、更具挑戰性的樣品。同時,該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質量、高穩定性的TEM、STEM和納米分析。
儀器型號
FEI Tecnai G2 F30
技術參數
- 點分辨率0.20 nm
- 線分辨率0.10 nm
- 物鏡球差系數1.2mm
- 物鏡色差系數1.4mm
- 信息分辨率0.14nm
- HE STEM分辨率0.17nm
- 電子槍類型肖特基場發射槍
案例展示
應用范圍
Tecnai G2 F30的主要功能是TEM形貌觀察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping。廣泛應用于材料、化學、物理、地質、地理、環境、生物、醫學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域.