optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的
測量方法（“共聚焦色度模式”）外，還安裝了新的“干涉測量模式”。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用，從而擴大了應用范圍。
雙模控制器
控制器可用于共聚焦色度模式和干涉測量模式。 與以前的型號一樣，系統配置易于使用且簡單，只需根據所需的測量精度更換筆式模塊即可。
測量原理（干涉測量模式）
光源發出的光會反射在測量對象、參考板和參考平面上。 此時，兩個反射光之間存在光程差。 如圖所示，如果將參考板插入待測物體的前面并盡可能靠近，使光程差進入干涉距離，則兩個反射光之間會發生干涉。 由于這種干涉的光譜強度是由波長調制的，因此可以通過軸向顏色校正光學筆進行測量和分析，以實現更精確的厚度測量。
optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
| 控制器 | CCS 控制器 | 光學筆“DUO”控制器 |
|---|---|---|
| 測量頻率 | 100~2，000點/秒 | ~2，000 點/秒 |
| 測量頻率選擇 | ○ | ○ |
| 光源 | 白色LED | 鹵素 |
| 光源強度 | 可 編程 序 | 可 編程 序 |
| 自動照度調節功能 | ○ | - |
| 遙控 | - | - |
| 大小 | 168×138×120 毫米 | 376×363×114 毫米 |
| 重量 | 1.4 千克 | 6 公斤 |
