測量原理
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術-EDXRF技術,也即能量色散X射線熒光技術。該技術測量樣品中原子產生的特征X射線光譜,更重要的是,這種測量方法在整個測量過程中是連續的,而不是只對起始時間進行瞬間測量。
技術參數
測量原理 | X射線能量色散技術 |
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測量元素范圍 | 原子序數14-92 |
測量范圍 | 濃度等級從0.5ppm到%等級 |
測量范圍 | 每臺儀器最多可測量15種元素 |
精度 | 取決于具體應用,從ppm到%等級。穩定性:優于0.5% |
工業計算機 | Windows嵌入式操作系統,液晶彩屏,完整的ASCII鍵盤 |
模擬輸出 | 獨立的4-20mA模擬輸出 |
通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網絡通訊協議(MODBUS) |
環境溫度 | 5-40°C |
X射線探頭 | 硅漂移探測器,分辨率135eV,低噪聲 |
高壓電源 | 0-50kV |
測量源 | 15W X光射線管,銀制電極 |
采樣窗口 | Be鈹 |
穩定性 | 自動偏移校正,自動反向散射峰校正 |
樣品流速 | 0.2-0.5L/min |
樣品池溫度 | 可達80°C |
樣品池壓力 | 標準大氣壓 |
樣品粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
樣品污染物 | >10微米需濾除,消除自由水 |
電源 | 110-230VAC, 50/60 Hz |
功耗 | 100VA |
儀表風 | 對于Exp型版本以及標配氣動閥(可選電動閥)需要<2L/min的儀表風 |
產品特點
1 使用EDXRF技術,C-Quand可測量從硅(原子數14)到鈾(原子數92)之間的任何元素,濃度范圍從ppm到%,測量的濃度范圍和精度根據具體應用而定。
- 2 長期測量的穩定性,通過內標消除檢測器和電子漂移
- 3 直接測量,無需高溫轉換
- 4 樣品池和第二個保護窗保護檢測器免受樣品污染
- 5 配置檢漏儀,如果遇到檢測窗破裂,可切斷安全閥門
- 6 檢測源是一個X射線管,意味著切換電源時,將停止輻射
- 7 可選加熱測量池,可將粘度高達100cSt的高粘度樣品加熱至80℃
- 8 寬測量范圍,從ppm到%水平均可保證測量結果的準確性
- 9 測量過程不受樣品密度和C/H比變化的影響
- 10 配合高敏感度、低噪聲的硅漂移探測器
- 11 連續無損測量,保證工藝不受干擾
- 12 日常維護簡單,定期清理測量池即可,測量池可拆卸,方便清潔
- 13 可選擇的信號輸出模式,4-20mA信號,MODBUS TCP/IP或RS485
- 14 每臺儀器多可測15種元素,測量的兼容性好
- 15 自動校正漂移,確保測量準確性
應用領域
XRF法是分析石油產品種總硫含量合適的方法,相比通過流動注射或轉化法測二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術方法相比,當檢測樣品的沸點超過450℃時,不再適合總硫分析,應用行業包括:
- 石油精煉工業: 燃油和原油中總硫的測定、煉油催化劑中雜質和微量金屬測定
- 化學工業: 石化工藝中催化劑的測定
- 電鍍工業: 測定電鍍槽中的金屬元素
- 污水處理: 測定污水中的痕量金屬元素
- 地質學: 稀土中元素分析、玉石元素成分分析