儀器照片 |
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儀器名稱 | 高分辨透射電子顯微鏡 | |
儀器型號 | JEM-2010 | |
生產廠家 | 日本電子公司 | |
儀器簡介 | 透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大后所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。該設備包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式，可觀察材料的質厚襯度像，衍射襯度像和高分辨電子顯微像；可獲得不同取向的電子衍射花樣；可進行微區成分分析。 | |
技術參數 | 加速電壓：80-200kV 電子槍：LaB6晶體 能譜儀：Link-Inca超薄窗口能譜儀 放大倍率：50-150萬倍 分辨率：點分辨率≤0.23nm，線分辨率=0.14nm | 加速電壓穩定性：≤2ppm 物鏡電流穩定性：≤1ppm 物鏡色差系數：≤1.4mm 物鏡球差系數：≤1.0mm 束斑尺寸:TEM mode: 優于20nm EDS/NBD/CBD mode: 優于1.0nm |
送樣要求 | 建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細填寫。樣品可提供20張左右圖片：即篩選出三個比較好的區域，每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區域的樣品，我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況！寄送樣品質量大于20 mg。 | |
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高分辨透射電子顯微鏡（TEM） 產品信息
