儀器照片 |
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儀器名稱 | 場發射透射電子顯微鏡 |
儀器型號 | Tecnai G2 F20 |
生產廠家 | 美國FEI公司 |
儀器簡介 | Tecnai G2 F20是一個多功能、多用戶環境的200 kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等)方便靈活地有機組合, 形成強大的分析功能 。 |
技術參數 | 加速電壓：200 kV 放大倍數：小于105萬倍 點分辨率：0.24 nm 線分辨率：0.14 nm STEM (HAADF)分辨率：0.19 nm 電子束能量色散：<0.7 eV 束流：>100 nA 1 nm束斑束流：>0.5 nA 樣品傾斜角：-40°~+40°? 能量分辨率：~130 eV (Mn K線) EDAX能譜儀 (EDS)：5B~92U |
設備功能 | 主要用于無機材料微結構與微區組成的分析和研究，儀器的功能包括： 1、電子衍射：選區衍射、微束衍射、會聚束衍射 2、成像：衍襯像（明、暗場像）、高分辨像 (HREM)、掃描透射像 3、微區成分：EELS和EDS能譜的點、線和面分析 4、微區化學：EELS的元素價態、化學鍵、配位結構和電子結構分析 |
檢測案例一（高分辨） |
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檢測案例二 (Mapping) |
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檢測案例三 （衍射） |
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送樣要求 | 建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細填寫。樣品可提供20張左右圖片：即篩選出三個比較好的區域，每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區域的樣品，我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況！寄送樣品質量大于20 mg。 |
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場發射透射電子顯微鏡（TEM） 產品信息
