蔡司掃描電子顯微鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

一、蔡司掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25技術參數

1、分辨率：2.0nm@30KV(SE with Lab6 option)  3.0nm@30KV(SE and W) 4.5nm@30KV(VP with BSD)

2、加速電壓：0.2—30KV

3、放大倍數：5—1000000x

4、視野范圍：6mm

5、X-射線參數：8.5mm WD，35度接收角

6、壓力范圍：10—400Pa (LS25-3000Pa)

7、工作室：420mm(φ)×330mm(h)

8、5軸試樣載物臺：X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°

9、試樣高度：210mm，試樣直徑：300mm

10、系統控制：基于Windows XP 的SmartSEM

二、蔡司掃描電鏡EVO MA 25/LS 25主要特點

1、的樣品高度可達210mm 

2、樣品重量5Kg 

3、的樣品直徑300mm 

4、能在可變壓力下操作

5、高亮度LaB6資源選擇

6、光線套選擇

三、蔡司掃描電鏡EVO MA 25/LS 25技術優勢

1.       在z軸上可機動化的移動50mm并且在X和Y軸上可移動130mm

2.       通用圖像處理

3.       用X射線分析改進了LaB6成像質量

4.       支持兩個空間的范圍