概述
好的技術(shù)帶來(lái)更高的效率
MIZ-28 提供更多的技術(shù)和超凡性能來(lái)實(shí)現(xiàn)快速的熱交換器管檢測(cè)。它配備了數(shù)據(jù)管理功能，擁有更大的機(jī)載數(shù)據(jù)儲(chǔ)存空間和方便快捷的文件傳輸。它的另一項(xiàng)特征是兩種注射工具放在一個(gè)盒子中。多路和同步注射被合并到一個(gè)盒子，這個(gè)盒子可以測(cè)試大多數(shù)管道材料，包括像碳鋼這樣的磁性合金。
優(yōu)勢(shì)
很好檢測(cè)
使用多路復(fù)用頻率進(jìn)行測(cè)試可讓您快速可靠地發(fā)現(xiàn)從表面裂紋到深部缺陷的問(wèn)題。
高速 RFT
同時(shí)注入為您提供很高的測(cè)試速度，并支持遠(yuǎn)程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。
大型內(nèi)部驅(qū)動(dòng)器
一個(gè) 256 GB 的內(nèi)部硬盤驅(qū)動(dòng)器提供了大量記錄檢查數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)空間。
堅(jiān)固的外殼
其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使其成為承受重載條件的理想裝置。
主要特征
2 技術(shù)合一
支持多路進(jìn)樣和同時(shí)進(jìn)樣，從而提高速度、效率和 RFT 功能。
Zetec 軟件就緒
數(shù)據(jù)文件與我們的 Velocity/AN 軟件、EddynetSuite Analysis 和 ET Analysis for Windows 兼容。
探針推動(dòng)器支持
使用 Model III Probe Pusher Control 系統(tǒng)為我們的帶有可選導(dǎo)管的 3D Probe Pusher 提供支持。
256 GB 內(nèi)置硬盤
規(guī)格
一般規(guī)格
| 重量 | 16.0 磅（7.3 公斤） |
| 方面 | 8.0H x 11.5L x 13.5D 英寸（20.3 x 29.2 x 34.3 厘米） |
| 力量 | 85 - 264 VAC 47 - 63 HZ zui大 140 瓦，所有選項(xiàng) |
| 工作溫度范圍 | 32°F 至 113°F（0°C 至 45°C） |
| 儲(chǔ)存溫度范圍 | -40°F 至 185°F（-40°C 至 85°C） |
| 頻率范圍 | 5 Hz 至 10 MHz |
| 展示 | 彩色 640 x 480 像素（8.4 英寸）有源矩陣顯示器提供與計(jì)算機(jī)顯示器相同的分辨率 |
| 駕駛 | 0 - 20 Vpp |
| 采樣率 - 樣本/秒 | 多路復(fù)用模式——操作員可對(duì) 1 個(gè)頻率進(jìn)行高達(dá) 15,600 s/s 的調(diào)整；4 個(gè)頻率為 3,900 s/s |
| 采樣率 - 樣本/秒 | SI 模式 — 操作員可在 4 種頻率下調(diào)節(jié)高達(dá) 15,600 s/s |
| 記憶 | 256 GB 內(nèi)置硬盤 |
| 記憶 | 通過(guò) USB 密鑰進(jìn)行配置和固件更新的閃存 |
| 記憶 | 用于存儲(chǔ)儀器設(shè)置的非易失性 SRAM 存儲(chǔ)器 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | USB 閃存驅(qū)動(dòng)器、磁光盤、Jaz 驅(qū)動(dòng)器、Zip 驅(qū)動(dòng)器 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 256 GB 內(nèi)置硬盤 |
| 輸入/輸出 | 用于網(wǎng)絡(luò)接口的以太網(wǎng) 10/100BaseT |
| 輸入/輸出 | VGA—輸出顯示到 VGA 顯示器或帶有外部轉(zhuǎn)換盒的視頻輸出 |
| 輸入/輸出 | RS-232 — 與 Model III 探頭推動(dòng)器控制的通信 |
| 輸入/輸出 | 用于打印機(jī)、鍵盤、大容量存儲(chǔ)設(shè)備的 USB |
軟件
速度軟件
我們采用了流行的 Eddynet PC 軟件，并針對(duì)設(shè)備平衡 (BOP)/熱交換器 (HX) 市場(chǎng)對(duì)其進(jìn)行了定制。我們易于使用的 Velocity 軟件是有效的數(shù)據(jù)分析和管理解決方案。與我們舊的 ET 分析和 EIM BOP 軟件相比，它提供了顯著的增強(qiáng)。
用于分析的速度 AN
線軸、MRPC 和陣列分析
增強(qiáng)型 C 掃描
電子分辨率
多數(shù)據(jù)文件比較
用于數(shù)據(jù)管理的 Velocity DM
檢查計(jì)劃和管理
歷史數(shù)據(jù)管理
測(cè)試計(jì)劃
PID測(cè)試
