儀器廠商:美國J.A.Woollam公司
型 號:M-2000DI
到貨日期:2008.4.19
技術指標:
● 波長范圍:190~1700 nm
● 光譜分辨率:1.6 nm(波長小于1000 nm);3.7 nm(波長大于1000 nm)
● 自動入射角范圍:45~900
● 自動樣品臺:150 mm*150 mm
● 旋轉補償器,Ψ可測范圍0~900,Δ可測范圍0~3600
主要用途:
用于單層或多層透明或半透明薄膜的厚度和光學常數(shù)的測定,廣泛應用于物理、化學、材料、生物、高分子、光學鍍膜、太陽能電池、平板顯示等領域的研究。