■ 產品說明
穩態熱反射測試法將基于雷射熱反射的技術(TDTR、FDTR)與穩態熱傳導技術結合再一起,進行快速、小尺度的穩態量測。
寬廣的熱傳導系數測試范圍從0.05W/mK ~ 2500W/mK,SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用,可選配的FDTR測量模塊量測徑向、橫向的熱傳導,以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平臺可以做到100mm的熱傳導分布圖。
穩態熱反射測試法將基于雷射熱反射的技術(TDTR、FDTR)與穩態熱傳導技術結合再一起,進行快速、小尺度的穩態量測。
寬廣的熱傳導系數測試范圍從0.05W/mK ~ 2500W/mK,SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用,可選配的FDTR測量模塊量測徑向、橫向的熱傳導,以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平臺可以做到100mm的熱傳導分布圖。
SSTR-F是由弗吉尼亞大學ExSiTE 實驗室Professor Patrick Hopkins 開發。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
適用材料 | 固體、液體 |
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熱傳導范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
熱點尺寸 | >100um |
溫度范圍 | 80K to 600K |
精確度 | 5% |
再現性 | 2% |
FDTR | |
熱傳導范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
量測方向 | 厚度方向、平面方向 |
薄膜厚度 | >5nm |