北京量拓科技有限公司（ELLITOP SCIENTIFIC CO., LTD.）是專業(yè)的橢偏儀器研發(fā)制造企業(yè)，專業(yè)致力于橢偏測量的方法研究、技術開發(fā)、產(chǎn)品制造和儀器銷售，并提供橢偏測試服務和橢偏測量整體解決方案。經(jīng)過持續(xù)的創(chuàng)新發(fā)展，目前已成為國際激光橢偏儀和光譜橢偏儀的主要廠商。量拓科技以發(fā)展的橢偏測量技術，提供納米薄膜檢測整體解決方案為企業(yè)使命，將通過持之以恒的不懈努力，在國際橢偏測量領域樹立源自中國的專業(yè)橢偏品牌ELLiTOP形象，藉此提升中國在國際橢偏測量領域的實力和地位，實現(xiàn)中國高科技企業(yè)貢獻世界的夢想。量拓科技“以量拓產(chǎn)品和服務協(xié)助客戶創(chuàng)造價值，走向成功”為衡量自身價值的基本出發(fā)點，依托深厚的橢偏測量研發(fā)基礎和專業(yè)的橢偏測量技術服務隊伍，為客戶持續(xù)不斷地提供國際的橢偏測量產(chǎn)品和服務。
快速攝譜型光譜橢偏儀ESNano 產(chǎn)品信息
ESNano光譜橢偏儀是應用于工業(yè)或科研領域中納米薄膜厚度和折射率常規(guī)測量的臺式解決方案。 儀器操作及其簡單，僅通過放置樣品、點擊一個按鈕，即可在數(shù)秒內(nèi)完成一次高精度測量。 ESNano光譜橢偏儀采用步進補償器掃描測量模式，利用高靈敏度陣列探測單元和專用橢偏分析軟件，通過光波在樣品表面反射前后偏振態(tài)的變化得到樣品信息。儀器用于常規(guī)測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k，或介電函數(shù)ε1和ε2），也可用于測量塊狀材料的光學性質(zhì)。
