ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 產品描述：
Otsuka ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 是一套功能強大且多用途的界達電位&粒徑 測量系統，能高精度地測量稀溶液到濃溶液的zeta電位和粒徑，此外還新增加了分子量分析功能(粒徑:0.6nm-10um/濃度范圍:0.00001%-40%)。電滲透測量能夠使用微體(130ul)一次性電池對zeta電位進行高精度分析。此外，新的自動溫度梯度功能，擴大了0℃和90℃之間的范圍，使熔點和相變點分析成為可能。
工作原理：
粒徑的原理：動態光散射法（光子相關法）。分散在溶液中的微粒通常會發生布朗運動。較大的粒子運動較慢，較小的粒子運動較快。當激光在布朗運動的影響下照亮粒子時，來自粒子的散射光會顯示出與單個粒子相對應的波動。根據光子檢測方法觀察到波動，從而計算出粒徑和粒徑分布。
Zeta電位測量原理：激光多普勒法。在大多數情況下，膠體顆粒具有正電荷或負電荷。當將電場施加到顆粒分散體時，顆粒沿相反電荷的方向遷移。隨著粒子在遷移過程中受到照射，散射光會根據電泳遷移率引起多普勒頻移，該方法稱為激光多普勒法。
電滲透表示在zeta電勢測量后細胞內部發生的液體流動。如果細胞壁帶電，則介質中的抗衡離子會遷移到細胞壁。這是抗衡離子遷移到細胞壁中的一個電極并遷移到細胞中心附近的另一電極的現象。通過測量表觀電泳遷移率并分析電滲，有可能獲得考慮到染色細胞的正確固定層并計算正確的界達電位。
使用高濃度電池的Zeta電位測量原理在于，由于多重散射或吸收效應，過去很難測量非常濃稠或著色的樣品。目前，ELSZ系列的標準樣品池能夠測量較寬的樣品濃度范圍。此外，可以通過FST方法測量高度濃縮樣品的Zeta電位。
產品亮點：
- 通過型的高靈敏度APD提高感光度，大大縮短了測量時間
- 搭載自動溫度梯度測量功能，可分析變性、變相溫度
- 可測量0~90℃寬闊的溫度范圍
- 增加了大范圍分子量測定及解析功能
- 可測量懸濁的高濃度樣本粒徑、界達電位
- 由實測Cell內電滲透的圖示化分析，可提供高精度界達電位測量結果
- 對應高鹽濃度溶液界達電位
- 對應小尺寸樣本平板界達電位測量
應用范圍：
- 納米生物、醫藥領域
- 納米材料、新機能性材料領域
- 食品、化妝領域
- 高分子、化學工業領域
- 精密陶瓷、顏料工業領域
- 半導體領域
技術參數：
測量參數
- Zeta電位：-200 ~ 200 mV
- 遷移率：-20 x 10^-4 ~20 x10^-4 cm^2/V/S
- 粒徑：0.6nm~10000nm
- 分子量：360~2000 x 10^4
- 溫度：0 ~ 90℃
- 濃度：粒徑（0.00001%（0.1ppm）~40%）、Zeta電位：0.001%~40%
- 電源：100V±10%，50/60Hz，250VA
- 尺寸：380W x 600D x 210H
- 重量：約22kg
升級選項：
- pH滴定儀測量
- dn/dc測量
- 各類Cell（微式、可拋式、粒徑微量、粒徑Flow、平板用、低導電率用等）
