充滿信心地邁步向前

Zetasizer Pro 是一種強大且多用途的測量系統，適用于測量顆粒和分子大小以及納米顆粒的電泳遷移率和電動電勢。其大小測量速度比前代型號最多快三倍，可加大樣品處理量，使操作人員和系統有更多時間能夠完成其他任務。

它擁有直觀的界面，由深度學習支持的數據質量診斷系統可以突出顯示問題并提供關于如何克服這些問題的建議，即使是剛入門的用戶也能完成品質的測量。

概述

Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技術，可在廣泛的濃度范圍內對顆粒和分子大小進行精準測量。

該系統還利用 M3-PALS 技術提供出色的電動和電泳遷移率測量。增加的恒流模式可在高導電性介質中測量電泳遷移率和電動電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電荷屏蔽而出錯的可能性。

大量可供選擇的試管適用于各種測量應用(包括一次性、高性價比折疊毛細管樣品池)，能在極低樣品量的情況下使用我們的擴散障礙法進行測量，不會產生直接樣品電極接觸。

新軟件套件 ZS Xplorer 可簡化復雜分析并實現自動化，從而在不具備專業知識的情況下完成充滿挑戰的測量。其的以樣品為中心的工作流程帶來的可用性和靈活性，這意味著比以往更快速、更輕松地完成從樣品輸入到結果輸出的過程。

工作原理

Zetasizer Pro 在一種緊湊型裝置中包含了三種技術，并且擁有一系列選件及附件，以便優化并簡化不同樣品類型的測量。

動態光散射法 (DLS)用于測量粒度及分子大小。DLS 可測量作布郎運動顆粒的擴散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉化為顆粒粒度與粒度分布。使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技術可在泛的粒度及濃度范圍內實現的靈敏度。

DLS 是一種靈活性的顆粒測量方法，具有快速、準確、可重復的特點。它只需要少量的樣品即可完成分析，并且可做到無損。這種技術不考慮材料因素，因此具有極廣泛的適用性。

電泳光散射法 (ELS)用于測量電動電勢。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度與電荷直接相關 使用型激光相干技術 M3-PALS(相位分析光散射法)檢測其速率。這樣即可計算電泳遷移率，并得出樣品的電動電勢及電動電勢分布。

ELS 的運用一般關系到穩定性和配方應用。不帶凈電荷的顆粒或分子可能會粘合在一起，可能會是系統遇到的一種困難(例如可能是附聚物的配方)。不帶凈正極或凈負極電荷的顆?；蚍肿訉⒏玫乇舜吮３志嚯x，從而形成穩定的系統。包含這些顆粒或分子的配方極易受其電荷態的影響，對 pH 值、添加劑濃度和離子濃度等配方屬性的變更可能會影響產品穩定性和儲存期。

ZS Xplorer 軟件套件

該軟件的設計非常簡單易用，即使是在復雜方法的快速構建中也同樣如此。關于要測量的樣品、其條件以及變量的信息在運行開始時輸入，并且 ZS Xplorer 將根據這些信息對用于該樣品的方法進行智能優化。由深度學習支持的數據質量指導系統可提供關于結果的反饋，并針對如何對數據進行必要的改進提出清晰的建議。

選件

MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。

一系列一次性及可重復使用的樣品池優化不同樣品體積和濃度的測量。

技術指標