AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀
產品描述：
AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀是全新設計的ULS-TEC平臺，其尺寸比上一代TEC平臺縮小了35%以上，采用新的機箱，帶溫度控制器和2個風扇，AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀主要運用在分子動態學分析、拉曼分析、熒光測量、化學發光測量、微弱信號探測、PL、EL測量。
產品介紹：
AvaSpec-ULS2048L/3648TEC是SensLine系列高靈敏度光譜儀中的主力產品，采用3階熱電制冷型CCD探測器，相比非制冷型CCD探測器，暗噪聲改善6倍以上，動態范圍擴大10倍。全新設計的ULS-TEC平臺，其尺寸比上一代TEC平臺縮小了35%以上，采用新的機箱，帶溫度控制器和2個風扇。
產品優勢：
高穩定性、高靈敏度、高采樣速度、低噪聲、大動態范圍。
產品特征：
3階TE制冷CCD陣列探測器（恒定5°C）、制冷溫度為低于環境溫度35°C、積分時間可達60秒、帶微處理器的電路板。
應用領域：
拉曼分析、熒光測量、化學發光測量、PL、EL測量、微弱信號探測、分子動態學分析。
注意：
取決于光柵的起始波長；波長越長，色散越大，分辨率越高。
主要參數:
光譜儀型號 | AvaSpec-ULS2048LTEC | AvaSpec-ULS3648TEC |
光學平臺 | ULS超低雜散光、Czerny-Turner對稱式光學平臺， 75 mm焦距 | |
波長范圍 | 200 – 1100 nm | |
雜散光 | 0.04 - 0.1%，與光柵類型有關 | |
探測器類型 | 2048像素CCD陣列 | 3648像素CCD陣列 |
靈敏度（單位：計數/微瓦 每毫秒積分 | 470,000 | 160,000 |
探測器制冷 | 3階TE制冷，恒定5°C （制冷溫度為低于環境溫度35°C） | |
穩定時間 | 4 minutes | |
暗噪聲改善倍數 （積分時間>5秒） | > 6倍 | |
PRNU*改善倍數 （積分時間>5秒） | > 8倍 | |
信噪比 | 300:1 | 350:1 |
AD轉換器 | 16位, 2 MHz | 16位, 1 MHz |
積分時間 | 1.1 ms – 600 sec | 10 μs – 600 sec |
采樣速度（帶板卡平均功能） | 1.1 ms /每次采樣 | 3.7 ms /每次采樣 |
數據傳輸速度 | 1.8 ms /每次采樣(USB2) | 3.7 ms /每次采樣(USB2) |
數據接口 | USB 2.0 高速接口, 480 Mbps | |
I/O接口 | HD-26接口，2 針模擬輸入, 2 針模擬輸出, 3 針數字輸入, 12 針數字輸出, 觸發, 同步 | |
3階制冷電功耗 | 5 VDC, 3.0 A | |
供電形式 | 100-240 VAC, 50 W | |
外型尺寸/重量 | 245 x 175 x 140 mm, 3.6 Kg | |
光柵選擇表：
應用范圍 | 可用波長范圍(nm) | 每塊光柵覆蓋的光譜范圍(nm) | 光柵線對數/mm | 閃耀波長(nm) | 光柵型號 |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300 | UA |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300/1000 | UNA-DB |
UV/VIS | 200-850 | 520 | 600 | 300 | UB |
UV | 200-750 | 250-220* | 1200 | 250 | UC |
UV | 200-650 | 165-145* | 1800 | UV | UD |
UV | 200-580 | 115-70* | 2400 | UV | UE |
UV | 200-400 | 70-45* | 3600 | UV | UF |
UV/VIS | 250-850 | 520 | 600 | 400 | BB |
VIS/NIR | 300-1100** | 800** | 300 | 500 | VA |
VIS | 360-1000 | 500 | 600 | 500 | VB |
VIS | 300-800 | 250-200* | 1200 | 500 | VC |
VIS | 350-750 | 145-90* | 1800 | 500 | VD |
VIS | 350-640 | 75-50* | 2400 | VIS | VE |
NIR | 500-1050 | 500 | 600 | 750 | NB |
NIR | 500-1050 | 220-150* | 1200 | 750 | NC |
NIR | 600-1160 | 350-300* | 830 | 800 | SI |
NIR | 600-1100** | 500** | 300 | 1000 | IA |
NIR | 600-1100 | 500 | 600 | 1000 | IB |
其他信息：
光譜學是測量紫外、可見、近紅外和紅外波段光強度的一種技術。光譜測量被廣泛應用于多種領域，如顏色測量、化學成份的濃度檢測或電磁輻射分析等。
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