實現紫外光譜輻照度的高精度測量
◆ 200-450nm紫外專用測試波段,紫外靈敏度更高,測量精度高
◆ 國家863(高技術研究發展計劃)項目研究成果
◆ 獲美國發明(號:US 7,978,324 B2)
◆ "批自主創新產品","國家重點新產品"榮譽
主要功能:
1)可用于測量紫外光源、各燈光源紫外部分的相對光譜功率分布,峰值波長、半峰帶寬、A1波段( 320nm-390nm)光譜輻照度、A2波段(UV 365nm)光譜輻照度、B波段波長范圍:(290nm-320nm)光譜輻照度、C波段(UV253.7nm)和特定波段內總輻照度等參數,測量精度高,不受探測器匹配的影響。
2) 光譜分析法是理想的數字積分方法,不受被測光源光譜分布和探測器響應帶寬函數的影響,是精度高的紫外輻射照度測量方法;
3) HAAS-2000以其高靈敏度和長期穩定性等優異性能特別適合于精度要求的測量場合,如紫外標準檢測或計量、光輻射安全測量、紫外領域科學研究等。