全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于透明或反射基底；能夠進行地貌圖測量，包括翹曲晶片。
 
 產品特點：
 ■ 全自動樣品校準
 ■ 高測量速率 < 8秒
 ■ 消除了全波段范圍內的盲點
 ■ 可測量透明和吸收基底
 ■ 高測量精度
 ■ 具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
 ■ 友好的軟件界面，強大數據分析功能
 ■ 具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
 
 技術指標：
 ■ 光源：氙燈
 ■ 光斑直徑：1-3mm
 ■ 入射角范圍：20°到90°自動控制
 ■ 波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
 ■ 波長精度：1nm
 ■ 測量時間: < 8s （取決于測量模式和粗糙度）
 ■ 入射角度精度：0.01
 

 可選配：
 ■ CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm
 ■ 樣品顯微鏡
 ■ 高穩定性消色差補償器
 ■ 透射測量架
 ■ XY移動樣品臺
 

 典型客戶：
 美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。